赵惠琼
- 作品数：3 被引量：2H指数：1
- 供职机构：昆明物理研究所更多>>
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- 相关领域：理学更多>>
- 溅射气压对非晶Hg_(1-x)Cd_x Te薄膜微观结构和化学组分的影响(英文)
- 2012年
- 采用射频磁控溅射制备了非晶态结构的Hg1-xCdxTe薄膜,并利用台阶仪、XRD、原子力显微镜、EDS等分析手段对薄膜生长速率、物相、表面形貌、组分比例进行了研究。实验结果表明,溅射气压对薄膜生长速率、微观结构、表面形貌和化学组分有直接影响。随着溅射气压增大,其生长速率逐渐降低。当溅射气压高于1.1 Pa时,薄膜XRD图谱上没有出现任何特征衍射峰,只是在2θ=23°附近出现衍射波包,具有明显的非晶态特征;当溅射气压小于1.1 Pa时,XRD谱表现为多晶结构。另外,随着溅射气压的增加,薄膜表面粗糙度逐渐减小,而且溅射气压对薄膜组成的化学计量比有明显影响,当溅射气压为1.1 Pa时,薄膜中Hg的组分比最低,而Cd组分比最高。
- 王光华孔金丞李雄军杨丽丽赵惠琼姬荣斌
- 关键词：碲镉汞薄膜非晶半导体微观结构
- 顶发射白光OLED器件制备及其色坐标漂移机制研究（英文）被引量：2
- 2016年
- 采用了高反射率金属Al和电化学性能稳定的金属Mo,在硅基底上制备了多层结构的Al/Mo/MoO_3阳极,并研究了不同MoO_3厚度下多层阳极的反射率。在此基础上,通过发光层共掺杂制备了顶部发光OLED器件,并对器件发光机制进行了系统研究和分析。实验结果表明:采用发光层共掺杂制备的顶部发光OLED器件的色坐标,随电流密度或电压的增加而发生漂移;OLED器件色坐标漂移的原因是三基色发光强度随电流密度的增加,逐渐偏离了形成白光(0.33,0.33)所需三基色强度比例值,导致了OLED器件的色坐标发生了漂移,其机制是发光层中主-客之间能量转移和陷阱共同作用的结果。进一步研究发现,在不同电压下,红光发光强度随驱动电压(或电流密度)增大而线性地减小。
- 王光华赵惠琼邓荣斌段瑜孙浩张筱丹周琴钱金梅万锐敏季华夏姬荣斌
- 关键词：有机电致发光器件
- 用于气体纯度快速检测的玻璃杜瓦/节流制冷器组件
- 一种用于气体纯度快速检测的玻璃杜瓦/节流制冷器组件，它包括金属外壳、支撑衬垫、玻璃杜瓦、节流制冷器、节流气路管道、金属盖板、紧固螺钉，全透明玻璃结构的玻璃杜瓦与节流制冷器间通过玻璃杜瓦内管耦合相联，玻璃杜瓦内管的内径与节...
- 朱颖峰和自强邵小波赵惠琼龙德智曹琳
- 文献传递
