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杨天勇

作品数:6 被引量:10H指数:2
供职机构:重庆师范大学更多>>
发文基金:重庆市自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电子电信化学工程更多>>

文献类型

  • 3篇会议论文
  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇理学
  • 2篇电子电信
  • 1篇化学工程

主题

  • 4篇光电
  • 3篇电性质
  • 3篇光电性
  • 3篇光电性能
  • 3篇光电性质
  • 3篇衬底
  • 3篇衬底温度
  • 2篇射频磁控
  • 2篇射频磁控溅射
  • 2篇稳定性
  • 2篇溅射
  • 2篇光致
  • 2篇光致发光
  • 2篇发光
  • 2篇P型
  • 2篇磁控
  • 2篇磁控溅射
  • 1篇导体
  • 1篇第一性原理
  • 1篇射频磁控溅射...

机构

  • 6篇重庆师范大学
  • 5篇重庆大学

作者

  • 6篇杨天勇
  • 5篇孔春阳
  • 3篇秦国平
  • 3篇阮海波
  • 2篇赵永红
  • 2篇梁薇薇
  • 2篇李万俊
  • 2篇孟祥丹
  • 1篇方亮

传媒

  • 1篇材料导报
  • 1篇中国科学:物...
  • 1篇2011中国...

年份

  • 2篇2012
  • 4篇2011
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
p型ZnO:N薄膜的拉曼及光电特性研究被引量:7
2012年
采用电子束蒸发技术在石英衬底上制备了ZnO薄膜,以N离子注入的方式及后期退火处理实现N掺杂ZnO薄膜.借助拉曼散射光谱、透射光谱和霍尔测试等手段研究了ZnO:N薄膜的拉曼及光电特性.结果表明:所有样品均呈现ZnO纤锌矿结构,在ZnO:N薄膜拉曼光谱中发现与N相关的振动模式(位于272.5,505.1和643.6cm-1),分析表明N已掺入ZnO薄膜中;霍尔测试表明,通过适当退火处理后,ZnO:N薄膜向p型转变,其空穴浓度为7.73×1017cm-3,迁移率为3.46cm2V-1s-1,电阻率为2.34Ωcm.然而,长期进行霍尔跟踪测试发现ZnO:N薄膜的p型性能随时间并不稳定,结合拉曼散射光谱和第一性原理计算分析认为由于p-ZnO:N薄膜中存在残余压应力,同时薄膜中还出现了易补偿空穴的施主缺陷(N2)O是p型不稳定的根本原因.
李万俊孔春阳秦国平阮海波杨天勇孟祥丹赵永红梁薇薇方亮
关键词:拉曼光谱稳定性第一性原理
N离子注入ZnO:Mn薄膜的特性研究
ZnO材料在室温下的带隙约为3.37eV,激子结合能高达60meV,在紫外发光器件、紫外激光器件、太阳能电池、压电器件等领域的应用前景非常广阔,近年来受到人们的广泛关注。同时,具有室温铁磁性的ZnO基稀磁半导体(DMSs...
杨天勇
关键词:射频磁控溅射室温铁磁性
文献传递
衬底温度对ZnO∶Mn薄膜结构及光电性质的影响
ZnO是一种具有六角纤锌矿结构的直接宽带隙半导体材料,常温下带宽为3.3eV,激子束缚能高达60meV,具有很好的光电和压电特性,在紫外发光器件、紫外激光器件、压电器件、太阳能电池、透明导电薄膜等诸多方面都具有广泛的应用...
杨天勇孔春阳阮海波秦国平黄桂娟李万俊梁薇薇孟详丹赵永红方亮
关键词:半导体薄膜射频磁控溅射法衬底温度光电性能表面形貌
文献传递
衬底温度对ZnO:Mn薄膜结构及光电性质的影响
杨天勇孔春阳阮海波秦国平黄桂娟李万俊梁薇薇孟详丹赵永红方亮
关键词:衬底温度光电性能光致发光
N-X共掺p型ZnO薄膜的研究进展被引量:3
2011年
获得高质量稳定的p型ZnO薄膜是实现ZnO基光电器件化的关键。目前,国际上公认Ⅴ族元素中的N替代O位(NO)是实现p型ZnO较理想的掺杂途径。但p-ZnO∶N薄膜的导电性能会随着时间、光照、温度条件发生变化,稳定性不足。大量的理论和实验研究表明N基二元共掺(N-X)可以提高N在ZnO薄膜中的固溶度,浅化N的受主能级,且在很大程度上能够改善p型ZnO的导电性能,有利于获得稳定的p型ZnO薄膜。为此,从N基施主受主共掺、双受主共掺以及其它共掺方面综述了N-X共掺p型ZnO薄膜的研究现状。
李万俊孔春阳秦国平阮海波杨天勇梁薇薇孟祥丹赵永红
关键词:P型ZNO薄膜稳定性
衬底温度对ZnO:Mn薄膜结构及光电性质的影响
采用射频磁控溅射法在不同衬底温度下制备了ZnO:Mn薄膜,借助X射线衍射、场发射扫描电镜、荧光光谱、霍尔测试等手段分析了衬底温度对薄膜结构及光电性质的影响。研究表明衬底温度的升高不仅可以改善薄膜的结晶质量和表面形貌,提高...
杨天勇孔春阳阮海波秦国平黄桂娟李万俊梁薇薇孟详丹赵永红方亮
关键词:衬底温度光电性能光致发光
文献传递
共1页<1>
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