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张凯虹

作品数:44 被引量:50H指数:4
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文基金:江苏省自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术电气工程经济管理更多>>

文献类型

  • 26篇期刊文章
  • 17篇专利

领域

  • 21篇电子电信
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  • 4篇电气工程
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主题

  • 7篇测试系统
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  • 4篇直接数字频率
  • 4篇直接数字频率...
  • 4篇数字频率合成
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  • 3篇自动测试系统
  • 3篇综合应力
  • 3篇向量
  • 3篇可靠性
  • 3篇集成电路
  • 3篇编程
  • 3篇DDS
  • 3篇FPGA

机构

  • 43篇中国电子科技...
  • 7篇江南大学
  • 1篇黄山旅游发展...
  • 1篇无锡小天鹅电...

作者

  • 43篇张凯虹
  • 12篇虞勇坚
  • 10篇解维坤
  • 4篇武乾文
  • 4篇王建超
  • 4篇陆锋
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  • 2篇吕栋
  • 2篇万书芹
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  • 1篇周亚丽
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  • 1篇陆坚
  • 1篇阮园

传媒

  • 13篇电子与封装
  • 4篇电子质量
  • 2篇半导体技术
  • 2篇计算机与数字...
  • 1篇航空计算技术
  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇舰船电子工程
  • 1篇环境技术
  • 1篇现代电子技术

年份

  • 1篇2025
  • 1篇2024
  • 1篇2023
  • 10篇2022
  • 6篇2021
  • 4篇2020
  • 1篇2019
  • 3篇2018
  • 3篇2017
  • 1篇2016
  • 4篇2015
  • 2篇2014
  • 3篇2012
  • 1篇2010
  • 2篇2009
44 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于T861测试系统的皮安级漏电流测试方法被引量:6
2018年
目前模拟开关的漏电流已达到皮安级,而传统的模拟集成电路测试系统的最小测量精度一般为纳安级,无法满足测试要求。研究了基于宏邦T861数模混合集成电路测试系统的皮安级漏电流测试方法。以ADG436型模拟开关电路为例,利用I-V转换方法设计了基于T861测试系统的漏电流测试方案,实现了基于测试系统对模拟开关皮安级漏电流进行测试。与使用安捷伦B1500A对ADG436电路的漏电流测试结果进行了对比,两者一致性较好。实验结果表明,基于T861测试系统的I-V转换方法测试模拟开关的漏电流具有较高的测量精度,能够满足ADG436型模拟开关的皮安级漏电流测试需求。
韩先虎张凯虹王建超郭晓宇
关键词:模拟开关漏电流
一种PCBA板级气态盐雾故障激发试验方法
本发明涉及一种PCBA板级气态盐雾故障激发试验方法,包括如下步骤:步骤S1:通电的条件下,对电子产品组件PCBA板级进行随机振动预激发试验测试;步骤S2:采用比对试验的方法,对比标准盐雾试验,确定实施气态盐雾试验设备的应...
江徽 万永康 刘信 王敦张凯虹虞勇坚
一种高效率MCU芯片Multi-Sites测试技术被引量:3
2014年
介绍了使用Multi-Sites工程测试技术提高MCU芯片测试效率的方案。针对MCU芯片Multi-Sites测试难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试中电性能测试、功能测试的影响因素和解决方案,并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析,保证MCU芯片Multi-Sites测试获得稳定可靠的性能参数,有效提高测试效率。
陈真陆锋张凯虹
关键词:MCU
5V直流继电器的驱动板设计被引量:2
2020年
设计了一种用于小型继电器的驱动电路,可以驱动额定电压为3~24V的直流继电器。该电路模块可以用于各种需要状态切换的电子回路中,易于控制。该电路模块利用一个电源电压和两个控制电压就可以工作,实现一组7个继电器的开关控制,而且易于扩展,多提供一个电压控制信号就可以多实现一组7个继电器的开关控制。该电路利用模数转换器ADC的转换特性,将模拟电压控制信号转换为继电器的开关信号。由于ADC有最小电压分辨率,所以模拟电压控制信号并不需要非常高的精度,普通的稳压电源就可以实现。因为ADC电路的输出电流有限,需要在ADC输出端接一级电流驱动芯片。通常小型继电器的控制电流超过30毫安就可以正常工作,所以ADC输出端的电流驱动芯片选用达灵顿管NUL2003,容易实现且成本低廉。
程法勇张凯虹
关键词:继电器驱动电路模数转换
一种微系统芯片内部互联线故障快速测试方法
本发明涉及一种微系统芯片内部互联线故障快速测试方法,包括故障定位算法、微系统芯片测试板、ATE、测试机台程序,测试方法通过调用故障定位算法生成相应的配置向量和测试向量,同时基于ATE平台设计的测试机台程序调用配置向量对微...
陈龙解维坤 李荣杰张凯虹章慧彬虞勇坚
MCU芯片Multi-Sites测试中几个值得关注的问题被引量:1
2014年
介绍了MCU芯片Multi-Sites测试方法,针对MCU芯片Multi-Sites测试的难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常影响测试系统和测试效率的问题。主要提出了MCU芯片MultiSites测试过程中的直流参数测试、功能测试的影响因素和解决方案,并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析,尽可能保证MCU芯片Multi-Sites测试过程中获得的各项性能参数稳定可靠。
陈真陆锋张凯虹
关键词:MCU
一种基于ATE的大电压脉冲隔离变压器测试系统及方法
本发明公开一种基于ATE的大电压脉冲隔离变压器测试系统及方法,属于变压器测试领域,包括信号发生器、电压放大器、变压器测试仪、复合信号示波器、ATE测试系统和变压器测试DUT板。本发明通过将普通信号源与电压放大器搭配使用代...
季伟伟陈宇轩张凯虹
文献传递
一种直流偏置环境下磁珠滤波电路等效仿真模型建立方法
本发明公开一种直流偏置环境下磁珠滤波电路等效仿真模型建立方法,属于仿真建模领域。首先处理阻抗特性曲线及直流偏置曲线图像;若磁珠滤波电路实际应用场景不存在直流偏置,直接到下一步骤;若存在则调整阻抗特性曲线;然后阻抗特性曲线...
姬学超解维坤虞勇坚 万永康 王敦张凯虹
文献传递
一种总线用功率变压器测试技术
2019年
功率变压器在现代电子设备生产制造领域应用十分广泛,它主要用于各种单频、窄频、多频等信号功率的传输。但由于此类器件为无源器件,利用普通的自动化测试系统对其进行测试具有一定的难度。该文主要从基本理论和电特性参数、波形参数测试两方面介绍功率变压器,并结合当前发展状况,以BTTC公司DSS-3000系列变压器DSS3330总线用功率变压器为例,详细论述了变压器参数的测试过程,并且对样品测试数据进行保存分析,为进一步的研究提供重要参考。
季伟伟朱江张凯虹
关键词:功率变压器波形参数
基于ATE的ADSP测试被引量:3
2018年
随着集成电路技术的飞速发展,ADSP的应用越来越广泛,其测试技术得到广泛的重视及研究。简要介绍了ADSP的重要组成部分,提出一种ATE对ADSP测试的方法。ADSP的测试包括功能测试、直流参数测试及交流参数测试,其中功能测试对ADSP是至关重要的。以ADSP-TS201S为例,其功能测试是通过Ultra Edit软件编辑生成测试码,导入测试仪器,对被测器件进行地址叠加操作,以检查其功能。主要讲述ADSP功能及交流参数测试的关键技术及其注意事项。
武乾文奚留华张凯虹
关键词:ATEADSP交流参数
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