周元俊
- 作品数：3 被引量：9H指数：1
- 供职机构：南京大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：理学机械工程更多>>
- 薄膜材料研究中的XRD技术被引量：8
- 2009年
- 晶格参数、应力、应变和位错密度是薄膜材料的几个重要的物理量,X射线衍射(XRD)为此提供了便捷而无损的检测手段。分别从以上几个方面阐述了XRD技术在薄膜材料研究中的应用:介绍了采用XRD测量半导体薄膜的晶格参数;结合晶格参数的测量讨论了半导体异质结构的应变与应力;重点介绍了利用Mosaic模型分析位错密度,其中比较了几种不同的通过XRD处理Mosaic模型,且讨论了它们计算位错密度时的优劣。综合XRD技术的理论及在以上几个方面的最新研究进展,对XRD将来的发展做出了展望。
- 周元俊谢自力张荣刘斌李弋张曾傅德颐修向前韩平顾书林郑有炓
- 关键词：X射线衍射应力位错密度
- 采用高分辨XRD确定AlxGa1-xN／GaN异质结的应变状态
- 2009年
- 利用高分辨X射线衍射方法,分析了采用金属有机物汽相沉积生长的AlxGa1-xN/GaN薄膜的晶体结构和应变状态.通过(002)和(105)面的倒易空间映射,分析获得AlxGa1-xN外延层的应变程度,并且计算了不同Al组分的AlxGa1-xN在倒易空间图上的弛豫方向;同时利用Vegard原理,推导了在双轴应变下Al组分的计算方程式,得出完全应变情况下Al组分为30%,与卢瑟福背散射实验结果比较符合.
- 谢自力张荣张彤周元俊刘斌张曾李弋宋黎红崔颖超傅德颐修向前韩平施毅郑有炓
- 关键词：高分辨X射线衍射弛豫
- 双模纠缠相干光场控制下双光子过程中有效二能级原子的信息熵压缩(英文)被引量：1
- 2008年
- 根据量子信息理论,研究了与双模纠缠相干场相互作用双光子过程中有效二能级原子的信息熵压缩.讨论了场的初态对信息熵压缩的因影响,并且比较了分别从基于信息熵测不准关系和海森堡测不准关系出发得出的结果.结果表明:信息熵压缩的稳定周期性、压缩方向分别由场的平均光子数和方向角控制,场的纠缠度对信息熵压缩不产生影响.信息熵压缩实现了对原子压缩效应的高灵敏量度.
- 刘小娟周元俊
- 关键词：方差压缩
