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刘宏亮

作品数:5 被引量:2H指数:1
供职机构:北京师范大学更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 3篇光度计
  • 3篇发光
  • 3篇发光特性
  • 3篇测试装置
  • 2篇余辉
  • 2篇自动测试装置
  • 2篇光纤
  • 2篇测试器
  • 1篇点阵液晶
  • 1篇液晶
  • 1篇嵌入式
  • 1篇嵌入式处理器
  • 1篇显示器
  • 1篇显示器件
  • 1篇光材料
  • 1篇光谱光度计
  • 1篇光学
  • 1篇光学参数
  • 1篇发光材料
  • 1篇ARM嵌入式

机构

  • 5篇北京师范大学

作者

  • 5篇刘宏亮
  • 4篇张保洲
  • 3篇王术军
  • 3篇蒋静芬
  • 3篇李子英

传媒

  • 1篇光学学报
  • 1篇北京师范大学...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2006
  • 1篇2004
  • 1篇2003
  • 1篇2000
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法
本发明涉及一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法,更确切地说是在正常照明条件下,全过程自动测试长余辉荧光粉发光特性的自动测试装置及测试方法的发明。它由模拟D<Sub>65</Sub>光源、电动快门、测试器、光度...
张保洲王术军刘宏亮蒋静芬李子英
文献传递
基于ARM嵌入式处理器和FPGA的光谱光度计的研究与开发
刘宏亮
关键词:光谱光度计
长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法
本发明涉及一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法,更确切地说是在正常照明条件下,全过程自动测试长余辉荧光粉发光特性的自动测试装置及测试方法的发明。它由模拟D<Sub>65</Sub>光源、电动快门、测试器、光度...
张保洲王术军刘宏亮蒋静芬李子英
文献传递
长余辉荧光粉发光特性的测试及实用装置被引量:2
2003年
讨论了影响长余辉发光粉特性的主要因素。介绍了测试其发光特性的基本要求。在此基础上描述了一种测试长余辉荧光粉的新装置。它使用模拟D65光源作为激发光源 ,使用一台自动量程光度计来测量长余辉荧光粉亮度。从激发源到样品的激发光 ,以及从样品到光度计的发射光均由光纤进行传导。激发光通过耦合在二光纤中间的电动快门实施控制。装置的工作由计算机控制。需要特别指出的是装置可以在正常照明条件下工作。
张保洲刘宏亮王术军李子英蒋静芬
关键词:发光特性测试技术测试装置发光材料
点阵液晶电光参数测量仪光测系统的研制
2000年
An apparatus for measuring optical characters of a matrix LCD is described. It is fit to measure the contrast, luminance and chromaticty of a picture dot on the matrix LCD or a similar small target.
张保洲刘宏亮
关键词:点阵液晶光学参数显示器件
共1页<1>
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