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10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
0.1~6.0 GHz pHEMT达林顿放大器被引量:1
2020年
采用栅长为0.25μm的增强型pHEMT工艺设计并制造了一款新型达林顿放大器芯片。该达林顿放大器第二级采用了共源共栅结构,引入了负反馈,并采用了有源偏置。在0.1~6.0 GHz范围内,小信号增益大于23dB,平坦度小于±1 dB,驻波小于2,噪声系数小于1.5 dB,输出1 dB压缩点大于21 dBm,输出三阶交调截断点大于34 dBm@1.8 GHz。所设计的共源共栅达林顿放大器具有较好的带宽和一致性等优点,适用于4G、5G通信系统以及雷达收发组件等。
焦芳陈金远
关键词:共源共栅宽带
GaAs功率单片脉冲在片测试技术研究被引量:2
2012年
讨论了功率单片在片脉冲测试中在片校准技术、脉冲功率测试技术等难题,并在讨论以上问题的基础上,实现工程化应用,该测试技术能够有效覆盖至40GHz。在建立的脉冲大功率在片测试系统上对输出功率典型值5W的GaAs功率单片放大器进行测试验证,测试结果和装架测试结果相比较,输出功率误差<0.2dB。
陈金远陶洪琪曹敏华吴振海郑华高建峰张斌
关键词:在片测试
一种在片测试直流探针卡
本发明公开了一种在片测试直流探针卡,能够克服传统直流探针卡存在寄生电感效应的缺陷,能够适用于各种微波单片集成电路的在片测试需要。包括环型介质基板,基板的上表面焊接有直流馈电探针与接地探针,探针上接有电容,直流馈电探针与电...
洪希依陈金远章军云黄念宁
文献传递
集成电路芯片的射频测试技术
射频测试是射频集成电路生产的关键技术。针对全面性能测试的要求,提出了用于射频IC的直流在片测试系统和小信号S参数测试系统,并完成了测试数据统计及成品率统计程序的编写。测试结果表明,该系统解决了射频芯片100%在片测试的技...
徐光吴振海陈金远钱峰陈新宇
关键词:射频集成电路在片测试
文献传递
微波在片测试数据离散剔除算法研究
2012年
针对微波在片测试项目多、参数复杂、数据处理灵活性大的特点,开发了工艺控制微波数据处理软件,但该软件存在离散数据剔除难的问题。文章讨论了如何对离散数据进行剔除的几种算法:模拟EXCEL表格画图法、一致性剔除离散算法、累积均方差剔除离散法、拟合正态分布曲线算法,最终选定拟合正态分布曲线算法作为剔除离散方法。将剔除离散数据功能完善到工艺控制微波数据处理软件,将使微波在片测试数据处理最终实现自动化。
曹敏华康耀辉顾梅陈金远张新焕
关键词:在片测试离散数据
GaAs多功能MMIC在片测试系统设计被引量:1
2021年
GaAs多功能MMIC集成度高,数模混合驱动及测试需求考验测试平台的兼容性和稳定性。采用PXI平台模块化测试仪器结合矢量网络分析仪设计多功能MMIC在片测试系统,满足GaAs多功能MMIC的数模混合信号驱动、检测需求,保证测试稳定性。
陈金远焦芳王逸铭林罡
关键词:PXI逻辑电路模块化仪器
GaN收发多功能芯片在片集成测试优化
2024年
为了解决传统开关集成测试方案中严苛的时序同步要求,根据GaN收发多功能芯片的在片电参数测试需求,采用环行器优化测试方案,减少芯片测试时序变量,提高了芯片测试程序的鲁棒性,并且利用去嵌入技术对系统的校准进行简化。通过典型器件的测试对方案进行了验证,结果表明,环行器优化测试方案与传统的开关集成测试方案输出结果基本一致,优化测试方案是有效的。
陈金远余旭明王逸铭丛诗力葛佳月戴一凡
关键词:鲁棒性去嵌入
一种基于PNA-X的脉冲功率放大器效率快速测试方法被引量:1
2015年
效率是功率放大器的关键参数之一,有着多种成熟的相关测试技术。讨论了几种常见功率放大器效率测试的方法,针对脉冲功率放大器在片生产应用测试技术要求,分析了各测试方法的优缺点,并在综合各测试方法的基础上引出一种新的功率放大器效率测试方法。提出基于PNA-X的脉冲放大器效率快速测试方法,实现脉冲放大器效率的快速测试,实现单次连接测试放大器的S参数、功率参数和效率,实现250个频点的扫描测试耗时不超过15 s,测试结果经过典型器件验证,其测试结果误差不超过2%,该测试方法可适用于功率放大器的在片测试典型应用。
陈金远李智群钱峰焦芳
关键词:动态电流脉冲功率放大器
集成电路芯片的射频测试技术
射频测试是射频集成电路生产的关键技术。针对全面性能测试的要求,提出了用于射频IC的直流在片测试系统和小信号S参数测试系统,并完成了测试数据统计及成品率统计程序的编写。测试结果表明,该系统解决了射频芯片100%在片测试的技...
徐光吴振海陈金远钱峰陈新宇
关键词:射频集成电路在片测试数据统计
文献传递
K波段收发集成多功能芯片被引量:1
2010年
彭龙新朱赤陈金远李建平高建峰黄念宁吴礼群
关键词:多功能芯片K波段收发SPDT开关低噪声放大器发射信号
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