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文献类型

  • 6篇中文专利

主题

  • 4篇阈值电压
  • 4篇成像器
  • 4篇成像器件
  • 3篇阈值
  • 2篇电压
  • 2篇阵列
  • 2篇填充因子
  • 2篇微电子
  • 2篇光学
  • 2篇光学传感器
  • 2篇复位
  • 2篇复位方法
  • 2篇感器
  • 2篇编程
  • 2篇差分
  • 2篇差分技术
  • 2篇差模
  • 2篇成像
  • 2篇传感
  • 2篇传感器

机构

  • 6篇中国科学院微...

作者

  • 6篇冀永辉
  • 6篇丁川
  • 6篇王凤虎
  • 6篇刘明
  • 4篇余兆安
  • 4篇王琴
  • 4篇龙世兵

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 3篇2012
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
一种半导体存储器件的复位方法
本发明公开了一种半导体存储器件的复位方法,属于存储器技术领域。所述方法包括:对半导体存储器件进行擦除操作,将所述半导体存储器件的阈值电压降低至预设电压Vref以下;执行第一轮软编程操作,将所述半导体存储器件的阈值电压调整...
冀永辉丁川王凤虎刘明
文献传递
一种光学传感器及其内部的成像器件
本发明涉及一种光学传感器及其内部的成像器件,属于光学传感器领域。所述成像器件由多个位于成像阵列上的成像结构构成,成像结构包括一个参考单元和至少一个成像单元,参考单元和成像单元的结构相同,参考单元和成像单元相邻排列且位于成...
冀永辉丁川王凤虎余兆安王琴龙世兵刘明
一种基于差分技术的消除成像器件阈值偏差影响的方法
本发明涉及一种基于差分技术的消除成像器件阈值偏差影响的方法,属于微电子技术领域。所述方法包括在成像器件阵列上设置一些参考单元,其余单元为成像单元,邻近位置安置参考单元以减小工艺、温度等因素引起的失配,使得成像单元和参考单...
冀永辉王凤虎丁川余兆安王琴龙世兵刘明
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一种光学传感器及其内部的成像器件
本发明涉及一种光学传感器及其内部的成像器件,属于光学传感器领域。所述成像器件由多个位于成像阵列上的成像结构构成,成像结构包括一个参考单元和至少一个成像单元,参考单元和成像单元的结构相同,参考单元和成像单元相邻排列且位于成...
冀永辉丁川王凤虎余兆安王琴龙世兵刘明
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一种半导体存储器件的复位方法
本发明公开了一种半导体存储器件的复位方法,属于存储器技术领域。所述方法包括:对半导体存储器件进行擦除操作,将所述半导体存储器件的阈值电压降低至预设电压Vref以下;执行第一轮软编程操作,将所述半导体存储器件的阈值电压调整...
冀永辉丁川王凤虎刘明
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一种基于差分技术的消除成像器件阈值偏差影响的方法
本发明涉及一种基于差分技术的消除成像器件阈值偏差影响的方法,属于微电子技术领域。所述方法包括在成像器件阵列上设置一些参考单元,其余单元为成像单元,邻近位置安置参考单元以减小工艺、温度等因素引起的失配,使得成像单元和参考单...
冀永辉王凤虎丁川余兆安王琴龙世兵刘明
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共1页<1>
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