李必勇
- 作品数：14 被引量：56H指数：6
- 供职机构：中国工程物理研究院流体物理研究所更多>>
- 发文基金：国防科技工业技术基础科研项目更多>>
- 相关领域：理学机械工程医药卫生自动化与计算机技术更多>>
- 高能闪光照相对电子束参数的要求
- 本研究对高能闪光机光源性能用Monte-Carlo方法模拟研究发现:并非击靶电子束半径越小、发射度越低,闪光机的照相性能就会越好.研究结果表明:为了使闪光照相图像视面上照射量分布比较均匀,对束半径与电子束归一发射度有一个...
- 施将君刘军刘进李必勇
- 关键词：光斑尺寸
- 文献传递
- 闪光照相系统中的散射问题研究
- 高能闪光照相中，对图像质量影响最大、也是最不确定的因素是高能X射线与系统器件作用产生的散射分布。不同照相系统的散射分布不同以及散射分布的极不均匀性，极大地影响了对客体信息的准确提取。因此，开展散射的研究，准确确定系统的散...
- 李必勇
- 关键词：蒙特卡罗模拟散射
- 文献传递
- 高能X射线成像系统中的准直器设计方法
- 本文从几何上确定了主准直器的设计方法,给出了准直角和准直器位置与光源半径、客体尺寸、照相布局之间的关系.在给定击靶电子束的情况下,利用光源尺寸测量的刃边法、应用MC模拟技术确定了光源尺寸与击靶电子束斑尺寸之间的关系.通过...
- 刘军施将君刘进李必勇刘瑞根
- 关键词：准直器
- 文献传递
- 高能闪光照相中影响光程确定的几个因素被引量：11
- 2004年
- 利用闪光照相基本原理和成像原理,在直接记录法和转换屏记录法的情况下,研究了闪光照相中影响X射线在材料中光程确定的主要因素。结果表明,影响光程确定的几个因素是:散射效应、光源角分布效应、立体角效应和能谱效应。对于高能闪光照相,散射效应是影响光程确定的最主要因素,散射的存在使光程的测量值比实际值降低20%～40%。因此必须在做CT之前,对散射的影响进行修正。
- 施将君刘军刘进李必勇
- 关键词：光程散射MONTE-CARLO模拟
- 高能闪光照相对电子束参数的要求
- 2006年
- 对高能闪光机光源性能用Monte-Carlo方法模拟研究发现:并非击靶电子束半径越小、发射度越低,闪光机的照相性能就会越好．研究结果表明:为了使闪光照相图像视面上照射量分布比较均匀,对束半径与电子束归一发射度有一个联合限制,对于20MeV闪光机,如果击靶电子束有效半径是 0．12cm,那么仅当束归一发射度≥550cm·mrad时,在2°内的照射量不均匀性才小于5％．
- 施将君刘军刘进李必勇
- 关键词：光斑尺寸
- 基于平板模型的X射线散射特性研究被引量：4
- 2006年
- 为了进一步研究高能X光散射的特性,以平板为模型,通过解析方法和蒙特卡罗(MC)数值模拟研究了X光散射的规律。研究结果表明:高能X光的散射以康普顿散射为主,当平板厚度相应的X光光程小于2.0时,平板散射中的一次康普顿散射超过75%;当到达探测器的散射照射量最大时,平板厚度相应的X光光程介于1.0与2.0之间。
- 刘进刘军李必勇施将君
- 关键词：散射光程平板
- 影响X光源特性的参数研究被引量：5
- 2005年
- 针对高能电子束撞击重金属靶产生轫致辐射光子,利用蒙特卡罗方法详细研究了电子束半径与发射度以及靶的厚度对X光源特性的影响 结果表明:电子束半径与发射度不仅是影响照射量的主要因素,也是造成照射量分布不均匀的主要原因;给定电子束,存在一个靶厚度使得靶前1m处的照射量最大 因此,在X射线成像系统的设计和模拟过程中,应综合考虑电子束半径与发射度和靶厚的影响.
- 刘军崔蔚施将君刘进李必勇
- 高能闪光照相中钨球散射规律研究被引量：14
- 2004年
- 用解析法和Monte Carlo法研究了钨球闪光X光照相的散射照射量空间分布随钨球半径、系统中元件构成以及保护器件与记录平面间距的变化规律。指出散射照射量的空间分布是不均匀的,它随球半径增加而变大;保护器件是散射照射量的主要来源,增加从保护器件到记录平面的距离,可以降低散射分布不均匀性,以及有效地减少散射。
- 施将君李必勇宗嵩刘军刘进
- 关键词：钨球保护器件
- 闪光照相中源尺寸和散射对成像的影响被引量：4
- 2006年
- 利用Monte Carlo(MC)模拟技术解释实验中心线灰度曲线的各部分波形。结果发现,系统中的散射照射量、光源的尺寸和H-D特征曲线的形状对实验灰度曲线的各部分波形均有影响:散射量越大,中心信号幅度越低;H-D曲线趾部的非线性越严重,中心信号幅度也越低;光源尺寸造成图像越模糊。指出了用实验波形可以半定量确定系统散射程度和光源尺寸。在测量照射量时,应该尽可能避免散射的干扰,用台阶法测量H-D曲线时,应使台阶远离剂量片而前移。
- 施将君刘军刘进李必勇
- 关键词：散射
- 线吸收系数能谱效应解析法研究被引量：9
- 2004年
- 用数值模拟的方法研究了FTO客体材料的线吸收系数随着穿透材料深度的变化关系,并拟合出材料有效线吸收系数与厚度之间的函数表达式。研究结果表明,在闪光照相中X光能谱发生了硬化,并随着穿透材料深度的增加谱平均线吸收系数会随之减小。FTO客体中钨的平均有效线吸收系数0.838(4.53%)cm-1,铜的平均有效线吸收系数0.297(4.96%)cm-1,能谱效应对有效线吸收系数的影响小于5%。在图像重建中利用上述的线吸收系数能够反演出精度达5%的材料密度。
- 刘进刘军李必勇施将君
- 关键词：谱硬化解析法
