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谭伟石

作品数:52 被引量:78H指数:4
供职机构:南京理工大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金江苏省自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:理学机械工程金属学及工艺一般工业技术更多>>

文献类型

  • 33篇期刊文章
  • 15篇会议论文
  • 2篇学位论文
  • 1篇专利
  • 1篇科技成果

领域

  • 42篇理学
  • 5篇金属学及工艺
  • 5篇机械工程
  • 4篇一般工业技术
  • 2篇电气工程
  • 2篇文化科学
  • 1篇化学工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇核科学技术

主题

  • 6篇X射线
  • 5篇应变弛豫
  • 5篇散射
  • 5篇弛豫
  • 5篇磁电
  • 5篇磁电阻
  • 5篇X
  • 4篇氧化物
  • 4篇入射
  • 4篇输运
  • 4篇锰氧化物
  • 4篇密度泛函
  • 4篇晶体
  • 4篇溅射
  • 4篇泛函
  • 4篇X射线散射
  • 4篇掺杂
  • 3篇射线
  • 3篇微观结构
  • 3篇掠入射

机构

  • 37篇南京理工大学
  • 29篇南京大学
  • 18篇中国科学院
  • 3篇南京航空航天...
  • 3篇杭州电子科技...
  • 3篇台湾大学
  • 3篇中国科学院上...
  • 3篇国立台湾大学
  • 2篇湖南城市学院
  • 2篇香港大学
  • 1篇哈尔滨工业大...
  • 1篇南昌大学
  • 1篇苏州工业职业...
  • 1篇河南工业职业...
  • 1篇中国药科大学
  • 1篇安徽工程大学

作者

  • 52篇谭伟石
  • 21篇吴小山
  • 14篇蒋树声
  • 12篇蔡宏灵
  • 8篇王海欧
  • 7篇贾全杰
  • 7篇邓开明
  • 7篇刘昊
  • 7篇曹梦雄
  • 6篇吴忠华
  • 4篇丁永凡
  • 4篇郑文莉
  • 3篇唐春梅
  • 3篇林涛
  • 3篇姜晓明
  • 3篇陈宣
  • 3篇杨立
  • 3篇沙昊
  • 3篇时阳光
  • 3篇王兴宇

传媒

  • 8篇核技术
  • 5篇物理学报
  • 3篇北京同步辐射...
  • 2篇物理通报
  • 2篇高能物理与核...
  • 2篇物理化学学报
  • 2篇大学物理实验
  • 2篇北京同步辐射...
  • 1篇物理实验
  • 1篇低温与超导
  • 1篇理化检验(物...
  • 1篇热加工工艺
  • 1篇江西科学
  • 1篇物理与工程
  • 1篇常熟理工学院...
  • 1篇吉林省教育学...
  • 1篇Transa...
  • 1篇第九届全国X...
  • 1篇第十一届全国...
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 2篇2018
  • 2篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2014
  • 2篇2013
  • 5篇2012
  • 1篇2011
  • 4篇2009
  • 4篇2008
  • 1篇2007
  • 5篇2006
  • 3篇2005
  • 5篇2004
  • 6篇2003
  • 4篇2002
  • 2篇2001
  • 1篇1995
52 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
Y0.2Ga0.8-xMnO3晶体结构的RietVeld精修
本文通过探讨A位引入空位对电子掺杂型锰氧化物晶体结构的影响,采用标准固相反应法制备名义成分为Y0.2Ca0 8-xMnO3(x=0~0.2)的粉末多晶样品.对其X射线粉末衍射数据分析显示,掺杂空位浓度范围内,所有样品均呈...
解其云谭伟石蔡宏灵吴小山邓开明
关键词:晶体结构锰氧化物X射线粉末衍射
文献传递
斜入射时光栅衍射特性的理论分析及实验研究被引量:11
2014年
在研究倾斜入射衍射光栅时如何测量光谱波长的基础上,给出了衍射光相对于零级衍射光夹角与倾斜入射光入射角的关系,利用最小衍射角法和等效光栅法测量高压汞灯绿光谱波长,定量分析了在常规衍射光栅实验中斜入射对波长测量结果的影响。
徐美嘉王海林谭伟石
关键词:衍射光栅斜入射
Si缓冲层的生长温度对SiGe组分、结构的影响
本文利用同步辐射X射线高分辨衍射、掠入射表面衍射、原子力显微镜、电子显微镜等手段研究了SiGe外延层的生长质量、组分与作为缓冲层Si的生长温度之间的关系.研究表明,在外延薄膜中Ge的含量为32±2﹪;当Si缓冲层生长温度...
吴小山蔡宏灵谭伟石翟章印吴忠华贾全杰郑鸿祥蒋树声
关键词:生长温度原子力显微镜电子显微镜
文献传递
溅射功率对Fe_(81)Ga_(19)薄膜结构和磁性的影响
2017年
采用射频磁控溅射技术在Sr Ti O_3(100)衬底上制备Fe_(81)Ga_(19)薄膜。利用XRD、AFM和VSM表征了Fe_(81)Ga_(19)薄膜的生长取向、内应力、表面形貌和磁性,研究了不同溅射功率(60~100 W)对Fe_(81)Ga_(19)薄膜结构和磁性能的影响。结果表明,所有薄膜主要以A_2相和L1_2相存在。随着溅射功率的增大,A_2相衍射峰的强度缓慢降低,内应力显著增加,表面粗糙度降低,薄膜的剩余磁化强度和饱和磁化强度明显减小,而矫顽力保持不变,都为50 Oe。
马亚茹曹梦雄王兴宇马春林周卫平谭伟石
关键词:溅射功率微观结构磁性
一个软链问题的受力情况分析
2012年
对软链在桌面滑落的问题进行了详尽的受力情况分析,研究结果表明不能忽略桌角处软链内部的张力变化.
任海林谭伟石徐浦
石英晶片X射线自动分选仪的理论设计被引量:2
2008年
介绍了石英晶片X射线自动分选仪的理论设计,详细讨论了测量原理、测量误差和探测器前端挡板设计等问题。结果表明,利用φ旋转法同时测量(0111)和(0223)晶面的衍射线,可以同时测出XX′倾角和AT切角,实现了对石英晶片的自动准确分选。
邓俊静谭伟石吴小山
掺杂钇钡铜氧、镧钙锰氧及薄膜的X射线散射研究
本论文主要采用多种X射线散射实验技术,结合原子力显微镜、透射电子显微镜以及四探针方法等测量手段,研究了掺杂高温超导体(HTS)YBa2Cu3O7-δ、超大磁电阻(CMR)材料La0.67Ca0.33MnO3和由二者组成的...
谭伟石
文献传递
非化学计量配比La0.67Sr0.33-x□xMnO3的结构和输运性质的研究被引量:1
2009年
利用固相反应法制备了非化学计量配比的类钙钛矿锰氧化物La_(0.67)Sr_(0.33-x)□_xMnO_3(0
徐跟建谭伟石曹辉邓开明吴小山
关键词:输运性质
密度泛函理论计算内掺氢分子富勒烯H2@C60及其二聚体的几何结构和电子结构被引量:1
2008年
采用密度泛函理论中的广义梯度近似(generalized gradient approximation,简称GGA),对内掺氢分子富勒烯H2@C60及其二聚体的几何结构和电子结构进行了计算研究.发现无论是在H2@C60单体,还是在其二聚体中,氢倾向以分子形式存在于碳笼中心处,且在室温下氢分子可以做自由旋转.电子结构分析表明,氢分子掺入到C60和C120中,仅对距离费米能级以下-8eV至-5eV能级处有一定的贡献,其他能级的分布和能隙几乎没有变化.
柏于杰付石友邓开明唐春梅陈宣谭伟石刘玉真黄德财
关键词:电子结构密度泛函
C60富勒烯-巴比妥酸及其二聚体几何结构和电子结构的密度泛函计算研究被引量:2
2008年
采用基于密度泛函理论的广义梯度近似,对C60富勒烯-巴比妥酸及其二聚体的几何结构和电子结构进行了计算研究.发现:C60富勒烯-巴比妥酸只有一种稳定结构,且掺杂巴比妥酸基团对C60分子构型的影响是局域的.C60富勒烯-巴比妥酸的二聚体有三种同素异构体,分别以[6,5]—[6,5],[6,6]—[6,5]和[6,6]—[6,6]三种方式键合,从能隙大小顺序和总能相对大小来看,[6,6]—[6,6]结构最为稳定.电子结构方面,在C60富勒烯-巴比妥酸单体中,Donor-Acceptor电荷转移体系为C60富勒烯-巴比妥酸,即电荷是从C60向巴比妥酸转移.由前线轨道和自旋布居数得知,C60富勒烯-巴比妥酸单体很好地保留了C60的电磁性质,但稳定性下降,易发生二次加成反应形成二聚体.对于C60富勒烯-巴比妥酸二聚体,Mulliken电荷分析显示,在加成四元环处的碳原子分别得到0·104e和0·106e电荷,而与它们邻近的碳原子则失去电子,带有正电荷,且距加成位置越近的碳原子失去的电荷越多.在远离加成位置处,碳原子的净电荷变化相对较小.与单体1·52eV能隙相比,二聚体中的能隙为1·45eV.其前线轨道分布与单体相比,最高占据轨道几乎未变,但最低未占据轨道发生了很大变化.
蒋岩玲付石友邓开明唐春梅谭伟石黄德财刘玉真吴海平
关键词:电子结构密度泛函
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