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王保青

作品数：5 被引量：1H指数：1
供职机构：合肥工业大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金安徽省自然科学基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 4篇数据压缩
  • 4篇测试数据
  • 4篇测试数据压缩
  • 2篇移位寄存器
  • 2篇扫描链
  • 2篇数据压缩方法
  • 2篇切分
  • 2篇线性反馈移位...
  • 2篇反馈移位寄存...
  • 1篇电路
  • 1篇系统芯片
  • 1篇芯片
  • 1篇集成电路
  • 1篇变长编码
  • 1篇SOC测试
  • 1篇大规模集成电...

机构

  • 5篇合肥工业大学
  • 1篇安庆师范学院

作者

  • 5篇王保青
  • 3篇梁华国
  • 3篇詹文法
  • 2篇蒋翠云
  • 2篇孙科
  • 2篇易茂祥
  • 2篇李扬
  • 2篇欧阳一鸣
  • 2篇黄正峰
  • 2篇刘军
  • 2篇陈田

传媒

  • 1篇计算机应用

年份

  • 1篇2011
  • 2篇2009
  • 2篇2008
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
变长编码在SoC测试中的应用研究
随着系统芯片(SoC)集成度和复杂性的迅速提高，大规模集成电路测试需要的测试数据相应增加，而传统自动测试设备(ATE)的存储量、工作频率以及带宽的有限性，使得SoC测试面临着测试时间过长、测试难度和测试成本急剧增加等诸多...
王保青
关键词：SOC测试系统芯片变长编码大规模集成电路
文献传递
组扩展编码在测试数据压缩中的应用被引量：1
2008年
为了减少SoC芯片的测试数据,提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案。该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由标记位、前缀和尾部组成。组扩展码将每组的容量扩大了一倍,能有效压缩芯片测试数据量。理论分析和实验结果表明组扩展编码能取得很好的压缩效果,而且能够更好地适应于不同的测试电路。
王保青梁华国詹文法
关键词：测试数据压缩
组扩展编码在测试数据压缩中的应用
为了减少SoC芯片的测试数据,本文提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案。该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由标记位、前缀和尾部组成。组扩展码将每组的容量扩大了一倍,能有效压缩芯片测...
王保青梁华国詹文法
关键词：测试数据压缩
文献传递
一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法
一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法，其特征是将测试向量级联后，根据确定位的个数进行分段，使每段的长度正好是2的幂次数，而且每段所包含的确定位的个数都等于或者小于且最接近于一个确定的常数k，再通过线性反...
梁华国詹文法王保青蒋翠云黄正峰易茂祥欧阳一鸣陈田李扬刘军孙科
文献传递
一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法
一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法，其特征是将测试向量级联后，根据确定位的个数进行分段，使每段的长度正好是2的幂次数，而且每段所包含的确定位的个数都等于或者小于且最接近于一个确定的常数k，再通过线性反...
梁华国詹文法王保青蒋翠云黄正峰易茂祥欧阳一鸣陈田李扬刘军孙科
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