李岗
- 作品数：5 被引量：3H指数：1
- 供职机构：烟台大学光电信息科学技术学院更多>>
- 发文基金：山东省自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学电子电信更多>>
- 自旋对表面磁极化子能量距离特性的影响被引量：1
- 2005年
- 在磁场为40T和考虑电子自旋的情况下,应用线性组合算符、变分和微扰法给出了半无限TlBr晶体内表面磁极化子能量与z(到晶体表面距离)之间的关系。电子自旋能量与电子和LO(体纵光学)声子之间的相互作用能之比以及与声子之间的相互作用能之比都随z增加而减小。电子自旋能量与电子和SO(表面光学)声子之间的相互作用能之比随z增加而增加。在z=0.5nm处,电子自旋能量与极化子的有效能量之比达到极大值,该比值在z<0.5nm范围随z增加而增加,在z>0.5nm范围随z增加而减小。这一结果对设计和研制自旋电子器件(如自旋场效应晶体管,自旋发光二极管和自旋共振隧道器件等)具有参考价值。
- 李子军李岗
- 关键词：TLBR电子自旋表面磁极化子
- 自旋对表面磁极化子自陷能磁场特性的影响
- 2005年
- 讨论了电子自旋对表面磁极化子特性的影响.应用么正变换、线性组合算符和微扰法研究了电子自旋对电子与表面光学声子耦合强、与体纵光学声子耦合弱的表面磁极化子自陷能Etr磁场特性的影响.以TlB r晶体为例所作的数值计算结果表明:电子自旋使Etr分裂为二,且随磁场B的加强,分裂间距增大;若电子与光学声子耦合强,自旋量子数mS取-1/2时,Etr随B的加强而增大,mS取1/2时Etr随B的加强而减少;若电子与光学声子耦合弱,不论mS取何值,Etr都随B的加强而减少;不论电子与光学声子耦合强还是弱,电子自旋作用对Etr的影响都随B的加强而增大.
- 李子军李岗
- 关键词：TLBR表面磁极化子电子自旋自陷能磁场特性
- 自旋对SIC半导体二维磁极化子基态能量的影响
- 2006年
- 应用线性组合算符和微扰法研究了电子自旋对SIC半导体性质的影响。基态能量E0+(对应于电子自旋量子数为正)和E0-(对应于电子自旋量子数为负)都随磁场增加而线性减少:在0 T时,E0+和E0-都为-76.24 MEV;在25 T时,E0+和E0-分别为-68.50 MEV和-71.39 MEV。自旋能量与E0+和E0-之比P0+和P0-都随磁场增加而快速增加:在0 T时,P0+和P0-都为0;在20 T时,P0+为0.627;在25 T时,P0-为0.453。自旋能量与LANDAU基态能量之比P2始终为0.23。自旋能量与自能和声子之间相互作用能量之比P1和P3都随磁场增加而线性增加:在0 T时,P1和P3都为0;在5 T时,P3为0.628;在40 T时,P1为0.306。这些数据和结果有助于设计和研制自旋场效应晶体管、自旋发光二极管和自旋共振隧道器件等。
- 李子军王子安房本英李岗
- 关键词：SIC半导体基态能量
- GaAs晶体二维自旋磁极化子平均数的磁温效应
- 2006年
- 研究了半导体内弱耦合二维自旋磁极化子的磁场和温度特性.在有限温度和外加均匀恒定磁场的情况下,应用么正变换和线性组合算符法给出了GaAs晶体内极化子平均数与磁场和温度的依赖关系的理论表示,也作了数值分析.数值计算的结果表明:在某一确定的温度下,弱耦合二维自旋磁极化子平均数随磁场的加强而减小;磁场较弱或温度较高时,平均数变化较剧烈;磁场较强或温度较低时,平均数变化较平缓;当外加磁场确定时,弱耦合二维自旋磁极化子平均数随温度升高而增大;当温度较低或磁场较强时,平均数变化偏离线性关系;当温度较高或磁场较弱时,其变化接近线性关系.
- 李岗李子军
- 关键词：弱耦合磁场效应温度效应
- InAs晶体二维自旋磁极化子自陷能的磁温效应被引量：2
- 2005年
- 在同时考虑磁场和高温高压的情况下,应用么正变换和线性组合算符法,研究了电子自旋对弱耦合二维磁极化子自陷能的影响。对 InAs半导体所作的数值计算结果表明,不同方向的电子自旋使弱耦合二维磁极化子的自陷能分裂为二。分裂的程度随磁场的加强而加剧。随着磁场或温度的增加,磁极化子的自陷能减小而电子自旋能量与磁极化子自陷能之比增大。当磁场足够强或温度足够高时,电子自旋能量与磁极化子自陷能之比是很大的。
- 李子军李岗
- 关键词：电子自旋么正变换线性组合算符晶体自陷
