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刘志东

作品数：7 被引量：29H指数：3
供职机构：中国科学院金属研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：理学金属学及工艺机械工程一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 7篇中文期刊文章

领域

  • 3篇金属学及工艺
  • 3篇理学
  • 1篇机械工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 5篇电子探针
  • 2篇硼
  • 2篇碳
  • 1篇软X射线
  • 1篇碳化物
  • 1篇能谱
  • 1篇能谱仪
  • 1篇膜厚
  • 1篇金属薄膜
  • 1篇化物
  • 1篇厚度
  • 1篇薄膜厚度
  • 1篇SI
  • 1篇WDS
  • 1篇硅
  • 1篇锰
  • 1篇EDS
  • 1篇MN
  • 1篇标样
  • 1篇波谱仪

机构

  • 7篇中国科学院金...

作者

  • 7篇尚玉华
  • 7篇刘志东
  • 7篇徐乐英
  • 3篇郭延风

传媒

  • 2篇电子显微学报
  • 2篇分析测试技术...
  • 1篇金属学报
  • 1篇分析测试学报
  • 1篇材料研究学报

年份

  • 2篇1999
  • 1篇1998
  • 1篇1997
  • 1篇1995
  • 2篇1994
共 7 条 记 录，以下是 1-7
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排序方式：
用电子探针测定碳的X光光谱被引量：3
1995年
用电子探针测定了六种碳的同素异性体和七种碳化物中的ＣＫα光谱。结果表明，六种纯碳物质的ＣＫα光谱的波长、外形以及强度等均互不相同。七种碳化物的ＣＫα不仅不同于各种纯碳物质的，而且其波长、半高宽、对称系数等随化合物中的金属元素的原子序数作周期性变化。为探讨ＣＫα光谱与电子结构的关系提供信息及碳化物的电子探针定量分析提供了有用的数据。
尚玉华徐乐英刘志东
关键词：电子探针碳碳化物
软X射线质量吸收系数的测定被引量：3
1999年
制备了厚度为25～225nm的C、Al、Ti、Cu、Nb、Mo、Ag、Ta和W9种纯元素薄膜样品，用化学分析方法测定了薄膜的质量厚度pz，并用电子探针测定了软X射线CKα、BKα的出射强度几和穿过薄膜后的强度I根据X射线通过物质时的指数衰减定律：I／I0＝e－μpz得到了这9种纯元素对CKα、BKα辐射的质量吸收系数μ。
尚玉华刘志东徐乐英
关键词：软X射线电子探针
钢中Si、Mn的电子探针定量分析与标样被引量：1
1994年
采用特制的Ｆｅ－Ｓｉ、Ｆｅ－Ｍｎ合金系列标样，用电子探针测定了钢或铁基合金中低含量的Ｓｉ和Ｍｎ元素，与用纯元素作标样、经ＺＡＦ修正的结果相比较，提高了分析准确度．
尚玉华徐乐英刘志东郭廷风
关键词：硅锰标样
用电子探针定量分析超轻元素中的几个问题被引量：12
1994年
碳、硼、氮及氧等元素在电子探针分析中常称之为超轻元素。这些元素的定量分析还存在许多包括测量和定量修正方面的困难。本文就质量吸收系数的不准确、超轻元素谱线的化学位移、及重元素的Ｌ、Ｍ、及Ｎ系谱线对其干扰等方面的问题进行研究和讨论，并分别提出了解决这些问题的方法。选择合适的标样是获得准确定量分析结果的关键。
徐乐英尚玉华郭延风刘志东
关键词：电子探针碳硼
波谱仪与能谱仪性能的比较被引量：8
1999年
用实验测量数据对波谱分析与能谱分析这两种技术在元素定性与定量分析方面的性能差异进行了比较，说明各自的长处与不足。
徐乐英刘志东尚玉华
关键词：波谱仪能谱仪WDSEDS
薄膜厚度的电子探针测量软件与应用被引量：1
1997年
利用Sewell的X射线激发深度公式建立起用电子探针测量有衬底纯元素薄膜厚度的应用软件；测量了Ti，Cu，Mo等四种厚度的薄膜标样的质量厚度，并对测量误差进行分析；最后给出了各种纯元素薄膜厚度的测量下限．
尚玉华郭延风刘志东徐乐英
关键词：电子探针金属薄膜厚度
硼的电子探针定量分析与质量吸收系数被引量：6
1998年
本文用电子探针测量中的薄膜模型法测定了八种元素对ＢＫα射线的质量吸收系数，与文献上查得的数据相比相差甚大。用几套数据代入修正公式进行反算，得到的强度比与实验测量的标准硼化物的强度比进行比较指出，我们的数据符合得较好。
徐乐英尚玉华郭延风刘志东
关键词：硼电子探针
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