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关国梁

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：中国科学技术大学计算机科学与技术学院更多>>
发文基金：国家自然科学基金安徽省自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇硬件
  • 1篇软硬件
  • 1篇软硬件协同
  • 1篇软硬件协同设...
  • 1篇微处理器
  • 1篇协同设计
  • 1篇测试系统
  • 1篇处理器

机构

  • 1篇中国科学技术...

作者

  • 1篇王恒才
  • 1篇赵振西
  • 1篇李曦
  • 1篇关国梁

传媒

  • 1篇小型微型计算...

年份

  • 1篇2003
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
微处理器测试系统设计被引量：1
2003年
为了保证微处理器芯片设计的正确性 ,需要进行大量的仿真和测试 ,因此需要一个微处理器测试系统 ,以实现微处理芯片功能的测试和调试 .本文分析了微处理器测试系统的功能。
关国梁李曦王恒才赵振西
关键词：测试系统软硬件协同设计
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