陈湘伟
- 作品数：9 被引量：11H指数：2
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- 化学沉淀PbS光导薄膜响应均匀性的改进
- 对化学沉淀法制备的PbS薄膜,通过优化沉淀方法、敏化过程,改善了PbS薄膜成分和形貌的均匀性。由改进后的薄膜所制备的光导PbS探测器,在大尺度(25mm)光敏元尺寸下,光电响应的不均匀性由改进前的±50%减小为±25%。
- 司俊杰万海林陈湘伟陈凤金黄战利张庆军孙维国
- 关键词：红外探测器PBS光电响应均匀性
- 文献传递
- InSb(111)、(211)及(110)晶面腐蚀极性研究被引量：2
- 2009年
- 极性是InSb晶体结构的一种属性,文中研究了这种极性对InSb晶片湿法腐蚀的影响,并对这种极性产生的原因进行了分析。结果表明,对于工艺中常用的CP4腐蚀液,(111)及(211)晶面腐蚀时表现出极性,(111)A面平均腐蚀速率为2.2μm/s,(111)B面的平均腐蚀速率为3.6μm/s;(211)A面的平均腐蚀速率为3μm/s,(211)B面的平均腐蚀速率为4.8μm/s;而(110)晶面在腐蚀时未表现出极性效应,只存在一种腐蚀速率为4μm/s。
- 马攀陈湘伟司俊杰
- 关键词：锑化铟湿法腐蚀
- 光导PbS焦平面探测器制备中负载电阻的选取
- 2014年
- 负载电阻分流方式通常用于消除光导PbS探测器的背景电流,其中各探测单元光敏元电阻与相对应负载的阻值可以相等,也可以成一固定比例。为研究不同负载电阻均可应用于光导PbS焦平面探测器,采用尺寸同为100μm×100μm的光敏元、分别为100μm×100μm和200μm×50μm的负载研制了线列1×128光导PbS红外焦平面探测器。利用红外焦平面测试系统对不同负载电阻制备的器件性能进行了测试与分析。研究表明,采用不同负载电阻均获得了性能正常的器件;在相同的光敏元工作参数下,器件的平均黑体响应率、平均黑体探测率基本一致,负载对其均无影响。研究结果验证了仅通过调节负载电阻即可使器件背景输出电平平坦化的可行性。
- 侯治锦司俊杰王巍吕衍秋王锦春陈湘伟
- 关键词：焦平面光导硫化铅
- 大面积PbS光导薄膜制备工艺优化被引量：7
- 2007年
- 对化学沉淀法制备的PbS薄膜,通过优化沉淀方法、敏化过程,改善了PbS薄膜成分和形貌的均匀性。由改进后的薄膜所制备的光导PbS探测器,在大尺度(25mm)光敏元尺寸下,光电响应的不均匀度由改进前的±50%减小为±25%。
- 司俊杰万海林陈湘伟陈凤金黄战利张庆军孙维国
- 关键词：红外探测器PBS光电响应均匀性
- 化学沉淀PbS光导薄膜响应均匀性的改进被引量：3
- 2006年
- 对化学沉淀法制备的 PbS 薄膜,通过优化沉淀方法、敏化过程,改善了 PbS 薄膜成分和形貌的均匀性。由改进后的薄膜所制备的光导 PbS 探测器,在大尺度(25 mm)光敏元尺寸下,光电响应的不均匀性由改进前的±50%减小为±25%。
- 司俊杰万海林陈湘伟陈凤金黄战利张庆军孙维国
- 关键词：红外探测器PBS光电响应均匀性
- 气相闪蒸纳米硫化铅的表征及其短波红外探测的应用
- 用气相闪蒸法制备了纳米 PbS 薄膜。通过在 Ar 气氛下闪蒸 Pbs 粉末,实现了纳米级 PbS 颗粒淀积,PbS 纳米颗粒大小可以通过改变 Ar 气压来控制,所得颗粒直径在5～20 nm 之间。透射率谱清晰表明纳米 ...
- 司俊杰陈湘伟陈凤金司阿利黄战利张庆军万海林
- 关键词：PBS闪蒸
- 文献传递
- 气相闪蒸纳米硫化铅的表征及其短波红外探测的应用
- 2007年
- 用气相闪蒸法制备了纳米PbS薄膜.通过在Ar气氛下闪蒸PbS粉末,实现了纳米级PbS颗粒淀积,PbS纳米颗粒大小可以通过改变Ar气压来控制,所得颗粒直径在5～20 nm之间.透射率谱清晰表明纳米PbS薄膜的吸收带边随纳米颗粒直径减小而兰移.PbS纳米颗粒的x射线衍射结果和透射电镜形貌观测结果相一致.分析了纳米PbS颗粒的尺寸分布,探讨了将此类纳米PbS薄膜应用于短波红外探测的可能性.
- 司俊杰陈湘伟陈凤金司阿利黄战利张庆军万海林
- 关键词：PBS闪蒸
- 化学沉淀PbS光导薄膜响应均匀性的改进
- 对化学沉淀法制备的PbS薄膜,通过优化沉淀方法、敏化过程,改善了PbS薄膜成分和形貌的均匀性.由改进后的薄膜所制备的光导PbS探测器,在大尺度(25mm)光敏元尺寸下,光电响应的不均匀性由改进前的±50％减小为±25％。
- 司俊杰万海林陈湘伟陈凤金黄战利张庆军孙维国
- 关键词：红外探测器化学沉淀法
- 文献传递
- 偏压等参数对光导PbS焦平面探测器性能的影响被引量：1
- 2010年
- 光导焦平面探测器的性能同其偏压及读出电路的工作参数密切相关。本文研究了采用CTIA型读出电路的1×128线列光导PbS焦平面探测器工作时,探测器偏压、积分时间和读出电路偏置电压对探测器信号、噪声及探测率的影响。实验结果表明：探测器信号、噪声及探测率均随探测器偏压增长而增加,存在一个最佳偏压3 V,使得探测器探测率达到最大;当超过此偏压后,信号电压增量减小,噪声电压增量增加;存在一个最佳积分时间50μs,此时探测器探测率达到最大;存在一个可使用的读出电路偏置电压范围3.35~3.85 V,在此范围内,信号和噪声均随读出电路偏置电压的增加而减小,但探测器探测率基本不变。研究结果对寻找光导PbS焦平面探测器最佳工作条件具有指导意义。
- 侯治锦王巍陈湘伟张国栋王锦春司俊杰
- 关键词：IRFPA光导PBSCTIA
