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石广元

作品数:21 被引量:30H指数:4
供职机构:辽宁大学物理系更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学自动化与计算机技术化学工程更多>>

文献类型

  • 20篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 14篇电子电信
  • 3篇理学
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  • 1篇化学工程
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主题

  • 5篇晶体管
  • 3篇碳化硅
  • 3篇球磨
  • 3篇感器
  • 3篇VDMOSF...
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  • 3篇场效应
  • 3篇场效应晶体管
  • 3篇传感
  • 3篇传感器
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  • 2篇微执行器
  • 2篇半导体
  • 2篇HREM
  • 2篇MOSFET

机构

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作者

  • 21篇石广元
  • 5篇孙彦卿
  • 4篇张颖
  • 3篇杨晓云
  • 3篇黄和鸾
  • 3篇王中文
  • 3篇高嵩
  • 3篇赵野
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  • 2篇王荣
  • 2篇丛众
  • 2篇张雯
  • 1篇刘辉
  • 1篇沈桂芬
  • 1篇胡延年
  • 1篇吴春瑜
  • 1篇吕品
  • 1篇崔敬花
  • 1篇孙立红
  • 1篇杨晓云

传媒

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  • 1篇中国科学(E...
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  • 1篇微处理机
  • 1篇第十次全国电...

年份

  • 4篇2001
  • 4篇1999
  • 5篇1998
  • 2篇1997
  • 2篇1993
  • 3篇1992
  • 1篇1981
21 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
V形槽的腐蚀及其应用被引量:2
1981年
本文简要地回顾了腐蚀V形槽的几种方法。并以联氨(N_2H_4)腐蚀V形槽工艺为主,结合半导体硅的结构报告了腐蚀方法,及达到最佳化的条件。并指出了此工艺的应用。
孙彦卿石广元
关键词:窗孔各向异性腐蚀联氨氮化合物晶形掩模版
电阻栅MOSFET电流模型分析
1997年
本文以普通长沟道MOSFET的电流模型为基础,推导出RG—MOS-FET一级近似下电流模型的解析表达式.并对其物理机制进行了分析讨论.
尹光石广元王中文
关键词:电流模型场效应晶体管
短沟道MOS器件阈电压和跨导的温度关系
1992年
本文从yau的模型出发,推导出了短沟道硅栅MOSFET的阈电压表达式及阈电压与温度的关系:并考虑短沟道MOSFET的扩散电流。推导出简单的电流—电压关系表达式,求出了跨导;得到了与试验一致的结果。发现,随温度的降低,MOSFET的阈电压的大小上升,阈电压的温度梯度的大小减小,跨导的大小急剧上升。结果表明,MOSFET更适合低温下工作。
孙彦卿石广元孙立红
关键词:MOS器件阈电压跨导
全文增补中
球磨诱导6H-SiC→3C-SiC转变的HREM观察
1998年
SiC是典型的多型化合物,其多型体的生长规律及相互转变规律一直是材料科学工作者关注的问题。Pirouz等[1]报道了压痕压缩诱导6H-SiC→3C-SiC的转变,其转变温度在1000℃以上。本文报道了在远低于1000℃的室温球磨条件下6H-SiC→3...
杨晓云石广元黄和鸾吴玉琨
关键词:晶体HREM碳化硅
压力变送器信号调理电路的设计思路被引量:2
1999年
就目前可得到的压力传感器和集成电路片,介绍了压力传感器的信号调理电路的设计.
孙立红崔敬花石广元
关键词:信号调理电路压力传感器压力变送器
传感器和执行器的未来
1993年
本文评述微传感器和微执行器的发展.
孙彦卿石广元
关键词:微传感器微执行器传感器执行器
VDMOSFET终端场板的设计考虑被引量:5
2001年
对最基本的场板结构 ,通过理论推导 ,深入讨论了场板下氧化层厚度与击穿电压、氧化层玷污所带正电荷电量之间的关系 ;又给出了场板长度值与击穿电压和P+区结深之间的关系 .
张颖陈炳全石广元
关键词:场板氧化层厚度击穿电压功率器件VDMOSFET
双极晶体管导通状态对功率纵向双扩散MOSFET静态电流-电压特性的影响被引量:6
2001年
通过对VDMOS结构器件测量的I—V特性和模拟结果的分析 ,发现在此结构中 ,寄生的双极管对器件性能具有不良影响 .可以来用一种新型的具有浅扩散p+区的自对准VDMOS结构 ,以完全消除寄生的BJT导通机制 。
高嵩石广元张颖赵野
关键词:双极晶体管电流-电压特性半导体器件VDMOSFET
宽温高频高反压沟道基区晶体管研制被引量:1
1999年
耗尽基区双极晶体管也称为双极静电感应晶体管(BSIT),其电流放大系数(hFE)具有负的温度系数.双极结型晶体管(BJT)的hFE具有正的温度系数.将BSIT与BJT并联,采用BJT常规平面工艺制造了宽温高频高反压沟道基区双极PNP晶体管.本文描述了这种新器件结构、工作原理、设计与制造.新器件突出特点是:当温度变化较大时,hFE漂移较小.测试结果表明:环境温度从25℃升到180℃时,器件的hFE随温度T的变化率小于35%.优于同类型的常规双极结型晶体管,平均改善20%.当温度从25℃降到-55℃,器件的hFE变化率小于或等于30%.
丛众吴春瑜王荣石广元闫东梅张雯朱肖林汪永生
关键词:静电感应双极晶体管BSIT
烧结工艺对可控硅参数的影响
1998年
本文讨论了烧结工艺对可控硅参数的影响,并对存在的问题进行分析,通过对烧结工艺的改进,使工艺中存在的一些问题得到了解决,从而提高了产品的合格率.
王中文石广元
关键词:欧姆接触可控硅
共3页<123>
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