莫少波
- 作品数:26 被引量:116H指数:7
- 供职机构:武汉大学化学与分子科学学院更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金湖北省自然科学基金高等学校骨干教师资助计划更多>>
- 相关领域:理学一般工业技术金属学及工艺轻工技术与工程更多>>
- 非晶态镍--磷合金的X射线光电子谱(XPS)分析
- 莫少波黄清安
- 关键词:镍非晶态合金镍磷合金化学分析电子谱法
- 东周古墓绿色晶体样品的剖析
- 对在江西靖安东周墓葬群的发掘过程中发现的未知绿色晶体文物,采用一系列现代仪器分析方法进行了综合分析检测,包括电子显微、X射线能量色散谱、显微红外光谱、差热分析、X射线广角衍射、X射线光电子能谱等。分别从形貌、组分、官能团...
- 童华方北松李梅英莫少波牛菲冯勇跃
- X射线光电子能谱研究低温氧等离子体对棉纤维表面改性被引量:7
- 1991年
- 本文叙述了用X射线光电子能谱(XPS)表征棉纤维的表面特性,比较了不同方法处理的棉纤维的表面改性。还讨论了等离子体对棉纤维的润湿性和脱脂作用机理。实验表明:刻蚀、氧化、分裂和接枝含氧基团是低温氧等离子体对棉纤维表面的主要作用。
- 杨业智莫少波何翔
- 关键词:XPS棉纤维表面改性等离子体
- 交联壳聚糖在痕量金预富集、分离中的应用研究被引量:18
- 2005年
- 研究了交联壳聚糖(CCTS)对于金的吸附性能,提出了用CCTS作为富集剂,预富集、分离水样中痕 量Au 的新方法。研究结果表明:在pH为4.0,吸附25min的条件下,CCTS对金的吸附率达99.0%;采用 2.5%(W/V)的硫脲溶液可将吸附在CCTS上的金定量洗脱。将CCTS用于水中痕量金的预富集,富集倍数达 20倍;用火焰原子吸收光谱法(FAAS)检测,检出限(3σ,n=6)为0.088mg/L;相对标准偏差(RSD)小于 5.9%;回收率在92%~102%之间。所提出的预富集方法具有简便、快速、选择性好等特点。
- 王昊云钱沙华莫少波黄淦泉
- 关键词:预富集痕量交联壳聚糖相对标准偏差FAAS吸附率
- 聚合物冠醚金属络合催化剂结构的XPS研究
- 杨业智莫少波
- 关键词:聚合催化剂显微构造分析冠式化合物
- 钾钼青铜电子结构的XPS研究
- 1997年
- 用XPS研究了紫青铜K0.9Mo6O17和蓝青铜K0.3MoO3的电子结构。根据测得的Mo3d芯级电子谱表明,紫、蓝青铜分别含有Mo6+、Mo5+、Mo4+和Mo6+、Mo5+离子,其平均价态数分别为5.52和5.73。通过对两种晶体的芯电子谱和价带谱的比较认为,不同化学计量比的K+离子对它们的电子结构影响是十分敏感的。
- 莫少波杨业智石兢
- 关键词:蓝青铜钼电子结构
- Sr_(14 -x)Ca_xCu_(24)O_(41)的芯能级光电子发射谱被引量:2
- 2005年
- 测量了准一维1/2自旋的反铁磁体系Sr14-xCaxCu24O41(x=0、3.5、6、7、8.4)多晶样品的芯能级光电子发射谱.各样品的Cu2p3/2的光电子发射谱中主峰峰位位于933.8eV左右,半高宽为3.3eV左右,拟合结果表明,当x=0时,Cu2+和Cu3+的质量分数分别为92.13%和7.87%;而Ca对A位Sr的替代对B位Cu芯能级的影响不明显,Cu2+和Cu3+的质量分数变化很小,估算得该体系中Cu离子的平均化合价为2.08;O1s的光电子发射谱中峰位位于531.0eV左右,并由于Ca对Sr的替代导致在低结合能方向出现一个小的台肩,该台肩来自于Ca-O键的贡献;Ca2p3/2的光电子发射谱中峰位位于346.4eV左右,Sr3d5/2的光电子发射谱中峰位位于133.4eV左右,证明在该体系中Ca和Sr的化合价均为+2价,没有混合价态存在.
- 潘复苏曾艺谢卉熊锐余祖兴汤五丰石兢莫少波
- 关键词:电子结构
- 交联壳聚糖对钒(Ⅴ)吸附机理的XPS研究被引量:6
- 2004年
- 本文用X射线光电子能谱(XPS)研究了交联壳聚糖对钒(Ⅴ)的吸附机理,在对比交联壳聚糖(CCTS)吸附钒(Ⅴ)前后的XPS谱中,可观察到CCTS的N1s和钒(Ⅴ)的V2p3/2峰都有较大的化学位移,说明钒(Ⅴ)与交联壳聚糖的—NH2基团发生了配位反应,交联壳聚糖对钒(Ⅴ)的吸附主要是化学吸附。
- 莫少波肖玫翁玥钱沙华
- 关键词:交联壳聚糖钒(V)X射线光电子能谱
- 低温氧等离子体对棉纤维表面结构的影响被引量:10
- 1991年
- 研究了低温氧等离子体对棉纤维表面的改性。用XPS、SEM测定了棉纤维的表面性能。实验结果表明:氧等离子体对棉纤维表面的作用是刻蚀、去脂,接枝含氧基团,经氧等离子体处理后棉纤维的吸水能力可明显提高。
- 杨业智莫少波童华何翔
- 关键词:棉纤维棉花
- 氮化碳薄膜的X射线光电子谱被引量:2
- 1999年
- 用XPS研究射频-直流等离子体增强化学气相沉积(PECVD)获得的氮化碳(CN)薄膜的化学结构。C1s 和N1s芯能级电子谱分析表明:在CN膜中含有N-sp3 和N-sp2 两类化学结构,在高含N膜中还含有少量的N-sp 相,且代表N-sp3 结构的原子比为1.28,接近4∶3,证明此膜中存在类β-C3N4 相。且增加膜中含N 量有利于提高类β-C3 N4 相的含量。CN膜的化学结构在离子辐照下会发生轻微变化,结果表明,随离子剂量增加,N-sp3 /N-sp2 比增高。
- 莫少波刘英杨业智程宇航
- 关键词:化学结构XPS离子辐照氮化碳薄膜