王震
- 作品数：3 被引量：0H指数：0
- 供职机构：西安交通大学电子与信息工程学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 采用多维相似性的测试压缩
- 未来的纳米电路测试需要更先进的测试压缩技术,本文探讨一种采用多维相似性测试图形的压缩方法。先提出两个种子向量的多维线性解压方法,以构成多维相似性测试图形;再研究多维相似性测试图形序列的约束条件,以构成最大长度序列;然后研...
- 雷绍充梁峰张路文王震刘泽叶
- 关键词：低功耗
- 文献传递
- 一种易于线性压缩的测试图形生成方法
- 2010年
- 为解决VLSI测试中数据量大、功耗高和故障检测难等问题,提出一种易于线性压缩的测试图形生成方法(LCG法).与传统方法不同,LCG法先解析出一类每个向量内部具有线性关系的测试序列,这种线性关系是基于单输入变化序列的,构成的测试序列可有效地减少被测电路内部的开关活动.测试生成时只需搜索测试向量少量的位值,其他位的值按预定义的线性关系解析出,再通过故障模拟的方法确认测试图形.压缩后的测试图形为其少量位的内容,具有压缩率高、易于实现、功耗低和覆盖率高的特点.对ISCAS89中5个最大的基准电路的实验结果表明,LCG法在固定故障覆盖率大于96%的情况下,压缩率都在10倍以上,甚至可以达到100倍以上.
- 曹磊雷绍充王震梁峰
- 关键词：低功耗
- 采用多维相似性的测试压缩
- 未来的纳米电路测试需要更先进的测试压缩技术。本文探讨了一种采用多维相似性测试图形的压缩方法。先提出两个种子向量的多维线性解压方法，以构成多维相似性测试图形;再研究多维相似性测试图形序列的约束条件，以构成最大长度序列;然后...
- 雷绍充梁峰张路文王震刘泽叶
- 关键词：集成电路电路测试低功耗技术
