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高新华

作品数:28 被引量:167H指数:9
供职机构:钢铁研究总院更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重大科学仪器设备开发专项更多>>
相关领域:理学机械工程金属学及工艺一般工业技术更多>>

文献类型

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作者

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  • 2篇1997
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  • 1篇1995
  • 1篇1994
  • 2篇1993
28 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
新的一代顺序式X射线荧光光谱仪飞利浦PW2400型X射线荧光光谱仪被引量:1
1996年
本文着重介绍了飞利浦PW2400新的X射线荧光光谱仪,它采用了多种新技术,包括了超锐X射线管(SST),直接光学定位传感器(DOPS),多道分析器(MCA)及新的窗式软件。
谢荣厚高新华
关键词:X辐射荧光光谱仪光谱仪
新一代顺序式X射线荧光光谱仪——飞利浦PW2400型X射线荧光光谱仪被引量:2
1997年
介绍了飞利浦PW2400型新的X射线荧光光谱仪,它采用了多种新技术,包括超锐X射线管(SST)、直读光学定位传感器(DOPS)。
谢荣厚高新华
关键词:X射线荧光光谱仪X射线管传感器
XRF光谱法测定混合稀土中15个稀土分量被引量:18
2000年
用 1 5个稀土元素纯氧化物为标准参考物 ,以Li2 B4O7为熔剂制成熔融片 ,根据“表观浓度”理论建立了一种简易的混合稀土无标定量分析方法。用不含分析元素的 1 4个稀土元素熔片及试剂空白片为零点 ,以 1 0 0 %含量或其它含量的分析元素熔片为高含量点 ,建立校准曲线 ,用DeJongh模式计算理论α系数 ,用回归法计算谱线重叠校正系数 ,以校正共存元素的吸收 -增强效应和谱线重叠影响。用若干试样考察了该方法的适用范围和分析结果的准确度 ,试验表明 ,所得的分析结果能满足定量分析的要求。
张淑英卜赛斌崔凤辉高新华
关键词:XRF混合稀土光谱法
XRF在铝工业分析中的应用
本文综述了X荧光光谱在铝工业的应用,包括铝电解质分子比的测定、氧化铝中杂质的测定;纯铝中杂质元素的测定;铝合金中稀土元素的XRF测定。
张淑英高新华李雅清
关键词:分子比氧化铝纯铝荧光光谱
文献传递
铝电解质分子比的X-射线荧光光谱法测定被引量:8
2007年
铝电解质分子比是铝电解生产中的一项重要指标,本文用X射线荧光光谱法测定电解质中各化合物的浓度,达到计算分子比的目的。将研磨到一定粒度的样品在300kN的压力下压成圆片,然后在优化的条件下进行测定。采用电解质标样建立校准曲线,物理和化学影响采用数学方法校正,通过应用软件中的函数计算功能,根据测定元素的浓度自动计算分子比。该方法已用于多元铝电解质分子比的测定,测定结果与X射线衍射法相符。对同一样品进行14次平行测定,所得到的相对标准偏差为0.48%。
高新华舒军张鹏
关键词:电解质分子比X-射线荧光光谱法
影响X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁准确度因素的探讨(摘要)
铁矿石的种类繁多,形态各异,诸如赤铁矿(Fe2O3)、磁铁矿(Fe3O4)、褐铁矿(Fe2O3.nH2O)菱铁矿(FeCO3)等多种形态,它们通常与SiO2、CaO、MgO、Al2O3、K2O、Na2O等硫化物、碳酸盐、...
高新华
关键词:铁矿石熔融法
1960-2020年中国X射线荧光光谱分析评述文献评介
2023年
中国X射线荧光光谱(XRF)自1960年起,已经历了60多年的发展,相关文献数量已过万,其中的评述文献是读者了解我国XRF分析现状与发展趋势的最便捷工具之一。本文收集了181篇1960-2020年发表的XRF评述文献,按综合性评述、年度评述和专题评述进行分类和评介,并对其中影响较大的文献做了进一步说明(引用文献184篇)。
李小莉王毅民高新华白金峰
关键词:仪器
铝电解用预焙阳极中杂质元素的X射线荧光光谱法测定被引量:5
2006年
用PW2403X射线荧光光谱仪和瑞士RDC公司C-300系列标准物质建立铝电解用预焙阳极的X射线荧光光谱分析方法,该方法准确性好、测定精度高、快速简便,适用于预焙阳极中S、V、Ni、Si、Fe、Al、Na、Ca、Pb等元素的准确测定。
刘杨军王玉琴程新兰崔步光关宇李福华高新华
关键词:预焙阳极X射线荧光光谱
PC1600 X射线荧光光谱仪自动化分析系统的研究与应用被引量:1
1996年
本文论述将PW1600X射线光谱仪改造成具有八十年代末期水平的PC1600系统的基本结构和功能。并以高合金钢为测试样品,进行合金元素定量分析,以验证新系统的各种功能、实用效果及其推广意义。
高新华赵向荣江海涛
关键词:射线荧光光谱仪计算机应用合金钢
一种用X-射线荧光光谱法测定硅酸盐及碳酸盐类样品中氧化物的通用方法被引量:10
2008年
宽范围氧化物定量分析是一种基于理论α法"表观浓度"概念(即元素浓度与谱线强度间的线性相关原理)适用于硅酸盐和碳酸盐类物料中多种氧化物的高精度定量分析方法。用硼酸盐为熔剂的熔融法制备样品,以单一纯元素氧化物或多元素氧化物合成方法配制标样,用基本参数法(FP)或理论α系数法校正残余基体影响。本文介绍以表观浓度概念为基础的宽范围氧化物分析方法,特别是以单元素或多元素氧化物合成的单点或多点标样校准仪器,取代多组分相似标样校准方法,实现精确的定量分析。根据冶金分析原辅材料的特点与要求,参照宽范围氧化物分析方法,加以适当的修改和调整,建立了一种以基本参数法为基础,适合于硅酸盐中多种氧化物的X-射线荧光光谱通用分析方法,用于对硅酸盐及碳酸盐类样品中氧化物的测定,结果与认定值均符合。
吴小红徐永宏高新华
关键词:熔融法
共3页<123>
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