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黄蓉

作品数:5 被引量:6H指数:1
供职机构:湖北工业大学机械工程学院更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 2篇等离子
  • 2篇温度循环
  • 2篇可靠性
  • 2篇键合
  • 1篇电路
  • 1篇圆片
  • 1篇直接键合
  • 1篇失效模式
  • 1篇图像
  • 1篇图像处理
  • 1篇温度循环试验
  • 1篇无铅
  • 1篇无铅焊
  • 1篇无铅焊点
  • 1篇集成电路
  • 1篇键合工艺
  • 1篇关键参数
  • 1篇硅圆片
  • 1篇焊点
  • 1篇封装

机构

  • 5篇湖北工业大学

作者

  • 5篇黄蓉
  • 4篇余军星
  • 4篇文昌俊
  • 4篇聂磊

传媒

  • 2篇电子世界
  • 1篇湖北工业大学...
  • 1篇湖北省机械工...

年份

  • 3篇2013
  • 2篇2012
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
面向高密度封装的等离子键合工艺分析与优化研究
本文以等离子键合工艺中影响键合效果的相关因素(预处理时间、射频功率、气体流速)为研究对象,通过圆片键合率分析各参数选取情况,旨在设计一组最佳参数组合下的优化工艺,为提高圆片键合质量提供参考。  在高密度互连要求越来越强的...
黄蓉
关键词:集成电路图像处理
文献传递
无铅焊点失效模式及可靠性影响因素研究
2012年
传统的铅锡焊料中,铅及其化合物会给人类健康及环境带来严重危害,因此无铅焊料的研究与应用成为近年来的热点问题。由于焊料从有铅向无铅的转变,同时工艺参数随之调整,给焊点的可靠性带来了不可忽视的影响。本文从无铅焊点的可靠性出发,分析了焊点的几种主要失效模式,并从设计、焊料的选择以及工艺参数等方面分析了影响无铅焊点可靠性的因素,将无铅焊点所存在的新的可靠新问题进行了归纳与讨论。
黄蓉聂磊文昌俊余军星
关键词:无铅焊点失效模式可靠性
温度循环试验参数的比较与选择被引量:5
2013年
温度是影响电子产品可靠性的重要环境因素.温度循环试验是环境试验中最常用、最有效的试验之一,对评价产品的可靠性和进行质量监控有着重大意义.通过对温度循环试验的温度范围、暴露时间、转换时间、温度变化速率、循环次数等关键参数进行分析,比较了试验标准MIL-STD-883G、JEDEC、GB/T2423中温度循环试验关键参数的差异,针对不同产品的具体要求,提出了选择适当标准的依据.
黄蓉文昌俊聂磊余军星
关键词:可靠性关键参数温度循环
硅圆片等离子表面活化直接键合工艺研究被引量:1
2012年
利用等离子轰击硅圆片表面,可提高其表面能,实现直接键合。在严格控制好工艺参数的情况下,用等离子体对硅圆片表面进行活化,能大大的提高键合强度,产生极少的空洞或空隙,得到一个较好的键合效果。本文针对等离子表面活化的工艺特点,选择了合理的参数,得到了较优化的工艺,试验结果证明此工艺能够实现无明显界面缺陷的直接键合。
黄蓉聂磊文昌俊余军星
关键词:等离子表面活化
温度循环试验参数的比较与选择
温度是影响电子产品可靠性的重要环境因素.温度循环试验是环境试验中最常用、最有效的试验之一,对评价产品的可靠性和进行质量监控有着重大意义.通过对温度循环试验的温度范围、暴露时间、转换时间、温度变化速率、循环次数等关键参数进...
黄蓉文昌俊聂磊余军星
关键词:温度循环试验参数优化
文献传递
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