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时序电路的单故障压缩: 1994年; 本文主要分析了时序电路中的自屏蔽(Self-Hiding)和时延再会聚(Delay-Reconver-gence)现象,以及由此而造成在时序电路中通常的故障支配关系不成立原因。另外还分析了时序电路中特有的优先扇出支(Prime-fanout)现象及其对故障压缩的影响,在此基础上成功地实现了对时序电路的单故障压缩。在文末给出了对标准BENCHMARK时序电路进行实验的结果。另外本算法还作为时序电路ATPG系统的预处理故障压缩部分,应用在我室国家八五项目FD-Ⅲ测试生成系统中。; 丰文义陈小涛; 关键词：时序电路

FD-Ⅲ——一个数字电路层次式测试生成系统: 1995年; 本文介绍一个实用数字集成电路层次式测试图形自动生成(ATPG)系统——FD—Ⅲ。FD—Ⅲ的特点是把测试生成和电路设计结合起来,充分利用电路的层次式结构,借助于电路和功能块已有的测试和模拟结果,加快整个电路的测试生成。该系统能对由WorkView等CAD系统描述的层次式组合电路,同步时序电路进行ATPG。其故障模拟(FS)子系统能对包括异步模块在内的电路进行故障模拟、测试压缩,并给出优化的测试集及其性能指标。目前该系统已对Benchmark等复杂电路和一些实用组合、时序电路进行了测试生成。; 赵岚陈小涛凌燮亭; 关键词：数字集成电路

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陈小涛