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戴林杉

作品数:9 被引量:8H指数:1
供职机构:电子科技大学微电子与固体电子学院更多>>
发文基金:国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:一般工业技术电气工程机械工程理学更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 4篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇电气工程
  • 4篇一般工业技术
  • 2篇机械工程
  • 2篇理学

主题

  • 4篇电畴
  • 4篇陶瓷
  • 3篇电容
  • 3篇电容器
  • 3篇多层陶瓷
  • 3篇多层陶瓷电容
  • 3篇多层陶瓷电容...
  • 3篇陶瓷电容
  • 3篇陶瓷电容器
  • 3篇铁电
  • 3篇流延
  • 2篇原子力显微镜
  • 2篇铁电体
  • 2篇晶粒
  • 2篇AFM
  • 1篇针尖
  • 1篇扫描探针显微...
  • 1篇数对
  • 1篇铁电薄膜
  • 1篇铁电畴

机构

  • 9篇电子科技大学

作者

  • 9篇戴林杉
  • 8篇包生祥
  • 6篇曾慧中
  • 4篇王志红
  • 3篇马丽丽
  • 2篇李松霞
  • 2篇陈琨
  • 1篇李红霞
  • 1篇彭晶
  • 1篇陈坤

传媒

  • 1篇现代科学仪器
  • 1篇分析测试学报
  • 1篇材料研究学报
  • 1篇电子显微学报
  • 1篇2003年纳...

年份

  • 1篇2006
  • 3篇2005
  • 1篇2004
  • 4篇2003
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
针尖参数对纳米软磁薄膜磁畴图像的影响
磁力显微镜(MFM)是在原子力显微镜(AFM)基础上发展起来的,它具有分辨率高、不破坏样品及样品无需特别制备等特点。磁力显微镜的探针是具有磁性镀层的磁性针尖,在磁性样品表面上扫描时能感受到样品杂散磁场产生的微小作用力,探...
陈琨王志红包生祥曾慧中李松霞戴林杉
文献传递
扫描探针显微镜在纳米材料表征中的应用被引量:5
2003年
报道了扫描探针显微镜在纳米电子薄膜材料的形貌、晶界、晶粒形状与尺度、表面粗糙度和剖面分析中的具体应用实例 ,以及纳米磁性薄膜中的微磁畴。
包生祥王志红李红霞曾慧中戴林杉陈琨
关键词:扫描探针显微镜纳米材料微结构
多层陶瓷电容器流延瓷膜的原子力显微镜分析
2005年
马丽丽包生祥戴林杉曾慧中
关键词:多层陶瓷电容器流延膜晶粒尺寸
电畴的显微方法特点研究
铁电材料是当前新材料领域的研究热点,随着铁电材料在应用方面的深入发展,对于材料微观结构的研究也变的越来越迫切。尤其是作为存储材料应用的铁电材料,电畴是材料存储的物理基础,并且与材料的疲劳和老化有着直接联系。因此有关铁电畴...
李松霞包生祥王志红戴林杉曾慧中陈坤
文献传递
铁电薄膜电畴及其性能的扫描力显微镜研究
扫描力显微镜(SFM)已经发展成为研究铁电薄膜材料电畴结构、电畴特性及其电性能的关键工具和方法。在众多的SFM模式中又以压电响应模式(PFM)为最主要的研究手段。 本研究从PFM电畴成像入手,讨论了样品表面“状...
戴林杉
关键词:铁电体铁电薄膜
文献传递
X7R型MLCC流延瓷膜显微结构的AFM研究被引量:1
2006年
针对多层陶瓷电容器流延瓷膜在迭片压片工艺中发生的起泡现象,利用原子力显微镜作为研究手段,分析对比了自制和进口流延瓷膜的微观结构差异,结果表明,瓷膜起泡的原因为瓷膜浆料中的粘结剂过多所致。根据分析结果提出了调节粘瓷比及调整流延工艺参数的建议,实践效果良好。
马丽丽包生祥彭晶戴林杉
关键词:多层陶瓷电容器流延
粗大晶粒PZT陶瓷中电畴的结构被引量:1
2004年
应用扫描力显微镜(SFM)的压电响应模式观测未经抛光处理的PZT陶瓷片的电畴结构,用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得PZT陶瓷材料三维电畴结构。结果表明,将样品晶粒的微形貌与SFM的纵向和侧向压电响应信号相结合,能准确表征粗大晶粒样品的三维电畴结构。用SFM可观测表面不经任何处理的陶瓷样品的电畴,不会引入表面应力等影响因素,能得到样品的原生畴结构。对原生畴结构的观察表明,对于受应力较大的晶粒,成畴的主要原因是降低应变能,而受应力较小的晶粒成畴的主要原因是降低退极化能。
戴林杉包生祥曾慧中
关键词:无机非金属材料铁电体电畴PZT陶瓷
多层陶瓷电容器流延瓷膜的原子力显微镜分析
马丽丽包生祥戴林杉曾慧中
文献传递
扫描力显微镜观察铁电畴的成像模式对比
在纳米尺度铁电畴的研究中扫描力显微镜(SFM)已经成为一种主要的手段。其中,运用较广泛的成像模式主要有三种:电力显微镜(EFM)、压电力显微镜(PFM)、非线件介电显微镜(Scanning Nonlinear Diele...
戴林杉包生祥王志红李松霞
文献传递
共1页<1>
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