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孙启明
作品数:
37
被引量:12
H指数:2
供职机构:
电子科技大学
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发文基金:
国家自然科学基金
中央高校基本科研业务费专项资金
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相关领域:
电子电信
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合作作者
赵斌兴
电子科技大学光电信息学院
王静
电子科技大学
李斌成
电子科技大学
周鹰
电子科技大学光电信息学院
高椿明
电子科技大学光电信息学院
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2011
1篇
2010
1篇
2009
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一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法
本发明涉及一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法,所述方法采用连续调制激光束照射在复合绝缘子表面,在计算机控制激光束调制频率变化过程中,采用红外探测器探测复合绝缘子表面红外辐射信号随调制频率变化情况。根据红...
李斌成
江海涛
赵斌兴
孙启明
文献传递
一种大口径光学元件激光预处理和吸收型缺陷成像检测的联合装置
本发明公开了一种大口径光学元件激光预处理和吸收型缺陷成像检测的联合装置,运用高能量重复率脉冲激光经能量调节和准直扩束形成大尺寸光斑对光学元件进行激光预处理照射,同时光学元件吸收型缺陷由于吸收照射激光束能量在样品内形成瞬态...
李斌成
孙启明
文献传递
一种基于啁啾光致荧光的半导体载流子寿命成像方法
本发明公开了一种基于啁啾光致荧光的半导体载流子寿命成像方法,运用光强啁啾调制的、光子能量大于半导体禁带宽度的激光经准直、扩束后激励半导体,产生的非平衡载流子通过辐射复合发出的光致荧光图像信号的时域特征与激励光的啁啾参数以...
孙启明
赵斌兴
王静
周鹰
一种半导体晶圆过剩载流子寿命空间分布的快速定量成像表征方法
本发明公开了一种半导体晶圆过剩载流子寿命空间分布的快速定量成像表征方法,运用光强正弦调制的、光子能量大于半导体禁带宽度的激光经准直、扩束后激励硅晶圆,在其中产生过剩载流子且浓度随时间呈同频正弦变化;过剩载流子通过辐射复合...
孙启明
王静
高椿明
雷晓轲
文献传递
基于压缩感知的光学器件面温度分布检测方法
本发明公开了一种基于压缩感知的光学器件面温度分布检测方法,该方法采用的光学器件面温度分布检测系统包括二维振镜、激光器、光学器件、温度检测模块、信号处理模块、反射镜、激光功率计。二维振镜改变激光器入射到待测物体表面的方向,...
周鹰
高蒙
赵斌兴
王静
孙启明
李斌成
文献传递
压电技术测量热扩散率的精度分析
被引量:9
2009年
根据测量热扩敞率的光声压电(PAPE)技术简化热弹理论,分析了该方法中样品厚度、热扩敞率大小对测量结果的影响以及PAPE技术的适用范围。介绍了基于简化热弹模型理论的PAPE技术,得出了简化的光声压电信号幅度和相位与调制频率的相互关系;根据PAPE技术理论分别对相同厚度不同材料热扩散率测量的灵敏度和不同厚度同一材料热扩散率的测量误差进行理论分析;通过实验分别对厚度约为2 mm的紫铜、铝、黄铜、铁和碳钢(含碳0.5%)以及不同厚度的铝和黄铜进行测量,验证理论分析结果。结果表明,PAPE技术测量热扩散率较大、厚度较厚的材料更加精确、有效。
高椿明
毕艳芳
孙启明
周鹰
王占平
关键词:
光学测量
热扩散率
一种大口径光学元件表面吸收型缺陷分布快速成像的方法
本发明公开了一种大口径光学元件表面及亚表面吸收型缺陷分布的快速成像方法,运用高能量脉冲激光经准直扩束形成大尺寸激励光斑对光学元件进行照射加热,光学元件表面及亚表面的吸收型缺陷在样品内形成瞬态温度分布及折射率分布。经过一定...
李斌成
孙启明
樊俊琪
文献传递
利用可调谐激光技术检测光学器件面温度分布的一种方法
本发明公开了利用可调谐激光技术检测光学器件面温度分布的一种方法,该方法采用的光学器件面温度分布检测系统包括激光器调制模块,激光器温控模块,半导体激光器,光学器件,温度检测模块,信号处理模块,微控制器(MCU),反射镜,激...
周鹰
高蒙
赵斌兴
王静
孙启明
李斌成
文献传递
基于光热辐射测量技术的热波成像技术对非晶硅薄膜太阳能电池缺陷成像
晶硅薄膜器件的实际应用中,除了光致衰减效应问题之外,磨损缺陷也是一个常见的不可避免的问题.因此,发展非晶硅缺陷检测技术是很有必要的.光热辐射测量技术作为一种非常有效的无损检测技术,已经被广泛应用于半导体材料各种特性的检测...
严来军
高椿明
赵斌兴
孙启明
刘丽娴
宦惠廷
关键词:
非晶硅薄膜太阳能电池
一种巴克码调制激光激励光声压电热扩散率测量方法
本发明公开一种巴克码调制激光激励光声压电热扩散率测量方法,所述方法运用巴克码调制信号调制激光强度并形成巴克码调制激光,巴克码调制激光激励待测样品并基于光声效应产生光声信号,光声信号由粘贴在样品后表面的压电换能器所探测,该...
赵斌兴
张增啟
孙启明
王静
周鹰
李斌成
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