2024年11月8日
星期五
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刘东月
作品数:
34
被引量:20
H指数:3
供职机构:
中国电子科技集团第十三研究所
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相关领域:
电子电信
电气工程
理学
自动化与计算机技术
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合作作者
黄杰
国家半导体器件质量监督检验中心
茹志芹
国家半导体器件质量监督检验中心
彭浩
国家半导体器件质量监督检验中心
徐立生
国家半导体器件质量监督检验中心
赵敏
中国电子科技集团第十三研究所
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作者
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刘东月
26篇
黄杰
15篇
茹志芹
13篇
彭浩
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徐立生
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赵敏
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聂丛伟
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2014
4篇
2013
2篇
2012
4篇
2010
2篇
2009
共
34
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六角基板大功率LED器件测试夹具
本发明公开了一种六角基板大功率LED器件测试夹具:涉及LED测试辅助装置技术领域;包括基座和盖帽;所述基座顶部设有用于承载LED器件的凸台,所述凸台顶部边缘对称设有两个电极,基座顶面设有用于锁定盖帽的夹紧机构;所述盖帽为...
黄杰
林齐全
刘东月
彭浩
文献传递
SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具
本发明提供了一种SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具,属于SMD封装半导体器件热阻测试装置技术领域,包括导电底座、压盖、电极座和压紧组件,导电底座下表面与控温平台的上表面贴合,上表面设有用于容纳待测器件的第一容纳槽;第...
刘东月
茹志芹
张中豪
赵敏
黄杰
文献传递
热阻测试夹具
本发明提供了一种热阻测试夹具,属于半导体器件结到壳热阻测试技术领域,包括盖板、加压部和驱动部;盖板具有朝向控温台接触面开口的容纳槽,容纳槽用于容纳待测的器件;加压部的一端用于与盖板背离容纳槽的一侧抵接;驱动部用于与控温台...
刘东月
张中豪
赵敏
刘芳
黄杰
文献传递
国产功率LED的一种新的失效模式
对国产1W大功率LED器件进行加速寿命试验时发现,在试验过程中发现了一种新的失效模式,即随着时间增加,正向电压VF逐渐变大。对以前做过加速寿命试验的大功率LED器件的数据进行了整理,发现只有国产封装的大功率LED器件存在...
黄杰
刘东月
彭浩
茹志芹
徐立生
关键词:
大功率LED
加速寿命试验
文献传递
白光LED的显色指数模型研究
当前测量LED参数,最常用的就是光栅光谱仪,其原理是将采集到的光信号通过光栅分光后进入探测器,最终测量得到各个波长下的辐射通量。而诸如色坐标、显色指数等参数均由光谱通过特定公式计算得出。白光LED一般是由三基色合成或单色...
彭浩
刘东月
聂丛伟
茹志芹
黄杰
关键词:
白光
发光二极管
显色指数
试验验证
文献传递
基于分布光度计测量LED灯具光效的不确定度评定
2024年
光效是衡量LED灯具将电能转化为光能的重要指标,对于同一LED灯具,采用不同光度测量系统测得的结果会有差异,且测量不确定度也会有所差异。本文以LED吸顶灯为例,基于分布光度计测量系统探讨影响光效测量结果的因素,对该系统测量LED灯具光效的测量不确定度进行评定。
刘东月
刘东月
茹志芹
关键词:
光效
测量不确定度
现场照度测试装置
本发明公开了一种现场照度测试装置,涉及照度测试技术领域,包括照度计固定装置、轨道及行走部分,所述照度计固定装置设置在轨道上,所述轨道与行走部分相连。本发明通过将照度计安装固定在轨道上的照度计固定装置上,并利用行走部分带动...
茹志芹
黄杰
刘东月
刘芳
文献传递
SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具
本发明提供了一种SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具,属于SMD封装半导体器件热阻测试装置技术领域,包括导电底座、压盖、电极座和压紧组件,导电底座下表面与控温平台的上表面贴合,上表面设有用于容纳待测器件的第一容纳槽;第...
刘东月
茹志芹
张中豪
赵敏
黄杰
大功率LED热阻测量不确定度的一种评定方法
介绍了电学法测量大功率LED热阻的测量不确定度的一种评定方法.首先对各个分量的不确定度进行分析,得出各分量的相对不确定度,再通过合成计算热阻的合成不确定度.对各个分量按照A类和B类不确定度分别进行了详细计算.对温度系数的...
茹志芹
张瑞霞
彭浩
刘东月
黄杰
关键词:
热阻值
不确定度
文献传递
半导体器件 第5-7部分:光电子器件 光电二极管和光电晶体管
本文件规定了光电二极管(以下简称“PDs')和光电晶体管(以下称“PTs')的术语、基本额定值和特性以及测试方法。本文件适用于光电二极管和光电晶体管。
刘秀娟
葛莉荭
成森继
李俊凯
刘东月
郑智斌
洪震
段琼
李俊
李成明
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