高戈
- 作品数：21 被引量：24H指数：3
- 供职机构：中国工程物理研究院更多>>
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- 相关领域：理学核科学技术金属学及工艺一般工业技术更多>>
- EDXRF法直接测定W-Fe-Ni-Co合金混合料组分
- 介绍了用能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF)测定W-Fe-Ni-Co合金混合料组分的分析方法.该方法将W-Fe-Ni-Co合金混合料样品直接压制成圆片,在能量色散X射线荧光光谱仪上直接测定其组分.当W、Fe、Ni和Co...
- 杨明太杨光文高戈齐红莲
- 关键词：X射线荧光光谱法能量色散
- 文献传递
- EDXRF法测定载Pd–Al_2O_3小球的Pd含量
- 本文介绍了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定载Pd-Al2O3小球Pd含量的分析方法。该方法在样品中定量加入内标元素Mo,再加入王水溶解载Pd–Al2O3小球上的Pd,制成滤纸试样片,用能量色散X射线荧光光谱仪...
- 王雯余春荣高戈赵忠刚
- 关键词：EDXRF
- 文献传递
- 金硅面垒探测器的修复与保养被引量：2
- 2004年
- 介绍了金硅面垒探测器因放射性的污染或粉尘、油渍等污物的沾附,致使其性能变坏而无法正常使用时,通过清洗和一定的处置使其性能恢复的方法。同时,还叙述了金硅面垒探测器的维护保养方法和使用注意事项。
- 杨明太高戈
- 关键词：金硅面垒探测器放射性污染
- y谱法测定铀废料中的铀量被引量：1
- 2001年
- 以 U3O8标准物质作标样 ,选用 2 35U的 185.7ke Vγ射线作为 2 35U的特征能峰 ,建立了γ谱法直接测定细颗粒固体铀废料 (直接法 )和测量液体铀废料 (溶样法 )的2 35U总量与特征能峰强度关系曲线 ,用γ谱仪直接测定固体铀废料或溶液废料 (将固体铀废料转化为溶液 )中的 2 35U,再结合质谱法测得铀同位素丰度求得铀废料中的总铀量。直接法适用于氧化粉、碎切屑、淤泥等细颗粒铀废料 ,其回收率为95%～ 10 5% ,测量结果的相对标准偏差优于 1.5% ;溶样法适用于氧化铍、切屑丝等可用化学试剂溶解的铀废料 ,其准确度和精密度均优于直接测量法 ,回收率为 97%～ 10 3% ,测量结果的相对标准偏差优于1%。
- 杨明太高戈齐红莲
- 关键词：质谱法
- WDXRF法测定Zr-Nb合金中Nb含量被引量：2
- 2010年
- 介绍了用波长色散X射线荧光(WDXRF)法测定Zr-Nb合金中Nb含量的分析方法。该方法将样品溶解,加载于滤纸片上,制成滤纸试样片,用X射线荧光光谱仪测定试样片中Nb含量。该方法简便、快速、准确,对Nb质量分数在1.0%～8.0%的Zr-Nb合金样品,测量结果的相对标准偏差(RST)不大于0.8%(n=6)。
- 杨明太吴伦强杨光文高戈余春荣
- 关键词：X射线荧光分析NB含量
- EDXRF法测定U-Zr合金中Zr含量
- 2017年
- 为满足大量U-Zr合金常规分析的需求,研究了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定U-Zr合金中Zr的含量。切屑样品经溶解、转移、烘干等操作后,制备出薄层样品,用于EDXRF测量。与传统方法相比,本方法简便、快速、准确,适用于Zr含量在6%~18%(质量分数,下同)范围的U-Zr合金样品的Zr含量测定,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于1.0%,方法扩展不确定度(k=2)不大于3%。
- 赵建龙王雯高戈余春荣吴伦强
- 关键词：ZR含量
- EDXRF法直接测定W-Fe-Ni-Co合金混合料组分被引量：1
- 2007年
- 介绍了用能量色散X射线荧光光谱法（EDXRF）测定W-Fe-Ni-Co合金混合料组分的分析方法。该方法将W-Fe-Ni-Co合金混合料样品直接压制成圆片,在能量色散X射线荧光光谱仪上直接测定其组分。当W、Fe、Ni和Co各组分的质量分数分别为80 wt%~98wt%0、.1wt%~7wt%、1.0wt%~10wt%和0.1wt%~1.5wt%时,测量各组分的相对标准不确定度依次不大于0.1%、1.5%、1.5%和4%。
- 杨明太杨光文高戈齐红莲
- 关键词：EDXRF
- EDXRF法测定载Pd-Al_2O_3小球的Pd含量
- 2012年
- 介绍了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定载Pd-Al2O3小球Pd含量的分析方法。该方法在样品中定量加入内标元素Mo,再加入王水溶解载Pd–Al2O3小球上的Pd,制成滤纸试样片,用能量色散X射线荧光光谱仪测定其Pd含量。该方法简便、快速,测定载Pd–Al2O3小球Pd含量为30wt%～50wt%时,其测量结果的相对标准偏差不大于0.9%,检出率为98%～102%。该方法可通过调整加入内标元素Mo的量,扩大测定Pd含量的分析范围。
- 王雯余春荣高戈赵忠刚
- U-Ta合金中Ta含量的EDXRF法测定被引量：3
- 2012年
- 介绍了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定U-Ta合金中Ta含量的分析方法。该方法将样品溶解,加载于滤纸片上,制成滤纸试样片,用X射线荧光光谱仪测定试样片中Ta含量。该方法简便、快速、准确,适用于Ta含量在1%～6%范围的U-Ta合金样品的Ta含量测定。对Ta含量为1.5%的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.6%;Ta含量为5%的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.3%。
- 杨锁龙余春荣杨光文高戈吴伦强
- 关键词：X射线荧光光谱分析
- 同位素稀释-α谱法测量土壤中的^(239,240)Pu被引量：2
- 2002年
- 用同位素稀释 α谱法测量了土壤中2 39,2 4 0 Pu。以2 4 2 Pu作稀释剂 ,用三正辛基氧膦 (TOPO) /甲苯溶液萃取 ,草酸反萃 ,水相制备α源 ,用低本底α谱仪测量钚同位素的α能谱 ,经数据处理得出2 39,2 4 0
- 吴伦强杨明太向方寿高戈刘钧
- 关键词：土壤同位素稀释Α谱钚239放射性核素
