杨登全
- 作品数：11 被引量：16H指数：3
- 供职机构：昆明物理研究所更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 128×128混合式热释电非致冷焦平面探测器列阵铟膜及铟柱制备工艺研究被引量：8
- 2003年
- 着重介绍了我们在“1 2 8×1 2 8混合式热释电非致冷焦平面探测器列阵(UFPA)”研制中铟膜及铟柱的制备和我们选择铟做混合式UFPA互连材料的理由与互连方法。强调了铟膜制备基本工艺要求。根据薄膜均匀性要求 ,计算出了蒸发源距工件的距离及所需材料量 ,确定了保证铟膜不氧化的关键数据及具体操作。文中给出了铟柱列阵显微照片 (显示了铟膜厚度)和铟柱列阵的立体形貌像 ,还介绍了铟柱列阵成型方法及铟柱生长工艺流程 ,并叙述了倒装互连技术 ,且给出了我们的成像演示照片和器件照片 。
- 黄江平杨春丽黎力杨登全张丽华李玉英
- 关键词：热释电焦平面铟柱UFPA
- 红外凝视成像系统中的微扫描器控制被引量：1
- 2014年
- 基于压电陶瓷驱动器,选用2×2微扫描模式,降低了系统控制难度。分析了影响微扫描器控制的几个因素,设计了一款以单片机为核心的控制电路,解决了微扫描器位移与同步的控制问题,并以此构建了一款基于国内某制冷型探测器的反射式微扫描热像仪,通过实验验证了采用2×2微扫描模式能够有效提升热像系统的空间分辨力。
- 杨登全姜炜波黄江平姬玉龙赵薇薇王羽程有度
- 关键词：热像仪
- 非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法
- 非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法，其技术方案为非制冷焦平面热像仪内的探测器光敏面固定不动，斩波器的调制盘在匀速旋转调制过程中，对于调制盘的曝光扇叶或调制盘的遮挡扇叶的任意一条扇叶边缘，在其扫过探测器光敏面中心...
- 程有度李龙孙光英李立华王敏姜炜波赵薇薇杨登全杨东
- 文献传递
- 红外傅里叶光谱仪用于红外探测器相对光谱响应曲线测试的几个问题
- 2013年
- 在使用红外傅里叶光谱仪进行红外探测器相对光谱响应曲线测试过程中,遇到了标准探测器如何选择和扫描速度(频率)参数如何设置的问题。通过分析测试原理、测试方法和测试仪器的工作原理,找到了问题的实质和解决问题的方向。
- 程有度李立华姬玉龙洪建堂戴诺姜炜波杨登全赵薇薇
- 关键词：红外探测器光谱响应
- 光刻技术在铟柱制备工艺中的应用研究
- 简要介绍了光刻在128×128混合式非制冷热释电焦平面(UFPA)探测器制作中的重要地位,重点介绍了光刻在铟柱制备中的应用研究.对铟柱成形的几种方法进行了比较,确定了剥离法制备铟柱.并进行了光刻实验与分析,得到...
- 杨春丽黄江平黎力杨登全张丽华李玉英
- 关键词：光刻技术焦平面探测器
- 光刻技术在铟柱制备工艺中的应用研究被引量：3
- 2004年
- 简要介绍了光刻在 1 2 8× 1 2 8混合式非制冷热释电焦平面 (UFPA)探测器制作中的重要地位 ,重点介绍了光刻在铟柱制备中的应用研究。对铟柱成形的几种方法进行了比较 ,确定了剥离法制备铟柱。并进行了光刻实验与分析 ,得到了满足 1 2 8× 1 2
- 杨春丽黄江平黎力杨登全张丽华李玉英
- 关键词：光刻剥离法UFPA探测器
- 热释电焦平面探测器倒装互连工艺研究
- 本文概述了热释电焦平面器件的倒装互连,以及各工艺参数之间的关系,并介绍了倒装互连之前的关键工艺——铟(In)柱制备的改良方案.
- 杨登全黄承彩杨瑞宇李玉英杨春丽
- 关键词：热释电混合式铟柱焦平面探测器
- 文献传递
- 紫外探测器用CdS晶片制备工艺研究被引量：2
- 2014年
- 介绍了叠层紫外/红外双色探测器结构特点、工作原理及选择CdS晶体材料制作紫外探测器光敏元的理论依据。阐述了CdS晶片制备及表面抛光质量的重要性和必要性。针对磨抛工艺对CdS紫外探测器性能的影响进行了研究。对比了几种抛光液对晶片表面的抛光效果,并进行了扫描电镜、红外透过率和表面粗糙度分析,得到了抛光后晶片表面的扫描电子显微镜(SEM)照片和CdS晶片厚度与红外透过率的关系曲线及CdS晶片厚度与振动噪声的关系。通过理论和实践的结合,确定了最佳抛光材料及最佳晶片厚度,研制出了完全能满足紫外探测器工艺要求的CdS探测器晶片。
- 黄江平何雯瑾袁俊王羽李玉英杨登全
- 关键词：紫外探测器红外透过率表面粗糙度
- 非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法
- 非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法，其技术方案为非制冷焦平面热像仪内的探测器光敏面固定不动，斩波器的调制盘在匀速旋转调制过程中，对于调制盘的曝光扇叶或调制盘的遮挡扇叶的任意一条扇叶边缘，在其扫过探测器光敏面中心...
- 程有度李龙孙光英李立华王敏姜炜波赵薇薇杨登全杨东
- 文献传递
- 热释电探测器NEP参数测量不确定度分析与计算被引量：3
- 2008年
- 阐述热释电探测器NEP参数的测量原理和方法,分析热释电探测器NEP测量不确定度的来源,计算NEP实际测量中的测量不确定度,计算结果表明,测量环境和测量过程中探测器光敏元与辐射源的准直度是影响热释电探测器NEP测量不确定度的主要因素,指出提高热释电探测器NEP参数测量质量的措施。
- 孙娟刘莹娟夏丽昆杨登全
- 关键词：热释电探测器NEP测量不确定度
