孙立民
- 作品数：2 被引量：5H指数：2
- 供职机构：上海交通大学分析测试中心更多>>
- 发文基金：上海市教育委员会创新基金国家自然科学基金国家教育部“211”工程更多>>
- 相关领域：一般工业技术生物学更多>>
- Si衬底上生长的MnSi薄膜和MnSi_(1.7)纳米线的STM和XPS分析被引量：3
- 2012年
- 本文采用分子束外延方法制备出MnSi薄膜和MnSi1.7纳米线,利用扫描隧道显微镜进行观察,采用X射线光电子能谱仪系统地分析了MnSi薄膜和MnSi1.7纳米线的Mn2p和Si2p.结果表明厚度为～0.9nm的MnSi薄膜表面为√3×√3重构,MnSi1.7纳米线长500—1500nm,宽16—18nm,高～3nm.MnSi薄膜的Mn2p1/2和Mn2p3/2峰位与MnSi1.7纳米线相同,均分别为649.7eV和638.7eV.结合能在640—645eV和～653.8eV处的锰氧化合物的Mn2p3/2和Mn2p1/2峰证明在短暂暴露于空气中后MnSi薄膜和MnSi1.7纳米线表面有氧化层形成.相对于纯Si的Si2p谱,两种锰硅化合物的Si2p谱向低结合能方向发生了位移,表明随着锰硅化合物的形成Si的化学环境发生了变化.
- 石高明邹志强孙立民李玮聪刘晓勇
- 关键词：X射线光电子能谱扫描隧道显微镜纳米线
- 磁透镜下XPS仪对磁性材料表征的可靠性评估被引量：2
- 2015年
- 对纯铁软磁材料(工业纯铁)、Nd2Fe14B单晶体和多晶Nd Fe B硬磁性材料,使用Axis UltraDLDX射线光电子能谱仪分别在静电模式和磁透镜模式下采集了全谱和高分辨率元素XPS谱图。通过对比3种材料分别在两种模式下的谱峰形状、谱峰位置、背底高低以及峰相对面积比值,探讨了样品在磁透镜磁场中被磁化后以及样品自身的磁场大小对XPS的定性和定量表征的影响。结果表明:纯铁材料可以在磁透镜模式下被正确地定性和定量表征;对于Nd2Fe14单晶体,磁透镜模式可以用于定性表征而不适合定量表征;对于多晶Fe Nd B,磁透镜模式下表征结果跟样品产生的磁场方向有关,光电子信号弱,有时甚至检测不出光电子信号。
- 金崧于帆梁齐杨彬王静孙立民
- 关键词：X射线光电子能谱磁透镜磁性材料
