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何小琦

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：电子部更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇国内会议论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电阻
  • 1篇电阻器
  • 1篇液晶
  • 1篇生产工艺
  • 1篇失效模式
  • 1篇碳膜电阻
  • 1篇碳膜电阻器
  • 1篇热阻
  • 1篇晶体管
  • 1篇功率晶体管
  • 1篇ESD
  • 1篇膜电阻器

机构

  • 4篇电子部

作者

  • 4篇何小琦
  • 1篇王洪恩
  • 1篇陈亿

传媒

  • 1篇第八届全国可...
  • 1篇1998电子...
  • 1篇第八届全国可...
  • 1篇中国电子学会...

年份

  • 2篇1999
  • 1篇1998
  • 1篇1985
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
组件功率晶体管热阻测试与分析
本文通过红外热像法分析了用于组件中功率芯片折峰值结温、峰值热阻与直流偏置条件的关系及其变化趋势，并与ΔV＜，BEF＞电学法测量的平均结温、平均热阻进行了对比，从对比数据说明功率器件在组件结构中以峰值结温限定最大允许功耗和...
何小琦
关键词：功率晶体管
文献传递
国内外碳膜电阻器对比分析的研究
内高阻的碳膜电阻器与国外同类产品作全面的成份及结构分析对比，从中找出影响国内碳膜电阻器质量的主要因素，并建议电阻器生产厂家探索如下问题：调整填料—树脂—稀释剂三者的配比，尽量适应于生产工艺条件的要求，以解决漆的均匀性，并...
黄桂荣何小琦曾自力
关键词：电阻器生产工艺
MCM-C多层基板的主要失效模式及机理研究
种试验方法暴露了MCM-C低温共烧多层陶瓷基板存在的失效（缺陷）模式，统计了其分布比例；探讨了其形成机理并提出抑制缺陷的工艺控制方法。
陈亿何小琦王洪恩
关键词：失效模式
用于ESD失效定位的液晶探测技术
本文介绍了用于半导体芯片ESD失效定位的向列相液晶探测技术,阐明了该技术在失效分析尤其是在ESD失效分析中的作用和优点,同时给出N沟结型场效应晶体管二个样品管ESD失效定位的应用实例,证实了PN结窗口边缘Si-SiO2界...
何小琦施明哲
文献传递
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