黄进
- 作品数：155 被引量：193H指数：9
- 供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划国防科技技术预先研究基金更多>>
- 相关领域：电子电信理学机械工程自动化与计算机技术更多>>
- 荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷被引量：3
- 2019年
- 提出荧光成像技术用于无损探测熔石英光学元件亚表面缺陷,利用该方法获得不同加工工艺下熔石英光学元件的亚表面缺陷。结合熔石英光学元件损伤性能研究,分析了熔石英光学元件亚表面缺陷与其损伤性能的关联关系。结果表明,熔石英光学元件损伤阈值与荧光缺陷密度呈反比关系,即亚表面荧光缺陷较少的样品损伤性能较好。这说明利用该技术方法可以有效评价熔石英光学元件的损伤性能。该研究结果对光学元件加工技术具有指导意义。
- 李洪路刘红婕蒋晓东黄进曹林洪
- 关键词：图像处理熔石英
- K9和熔石英玻璃纳秒基频激光损伤特性的实验对比研究被引量：11
- 2012年
- 利用光学元件基频激光损伤测试平台,通过实验测试相同条件下K9和熔石英两类常用光学元件的初始损伤阈值、损伤增长阈值和损伤增长规律,对比研究了两类光学元件的基频激光损伤特性.结果表明,K9和熔石英光学元件的初始损伤阈值基本相同,损伤面积增长都遵循指数性增长规律,损伤深度成线性增长.但两者损伤增长特性仍有很大的差别,与熔石英相比,K9激光损伤增长阈值较低,并且相同通量下的激光损伤增长更为迅速,通过两类光学材料抗压性能的巨大差异很好地解释了这一现象.该研究结果对国内高功率激光装置的透射光学材料工程应用有非常重要的参考价值.
- 刘红婕王凤蕊罗青张振黄进周信达蒋晓东吴卫东郑万国
- 关键词：激光损伤基频
- 一种非线性光学晶体的激光预处理方法
- 本发明属于激光预处理技术领域，具体涉及一种非线性光学晶体的激光预处理方法。本发明采用光子能量为Eg/2～Eg的激光对非线性光学晶体进行辐照，Eg为晶体的禁带宽度。本发明基于双光子吸收的激光预处理方法比基于三光子吸收的激光...
- 洪伟魏列宁郑万国雷向阳朱启华柴向旭粟敬钦蒋晓东周松周信达刘红婕郑垠波周维民张智猛黄进崔波孟令彪
- 一种用于光谱传感系统中的连接部件及光谱仪
- 本发明涉及一种用于光谱传感系统中的连接部件及光谱仪。所述连接部件包括：阵列式布设在基底的上表面的多个纳米结构单元；每个纳米结构单元对应一个设定谐振波长值；每个纳米结构单元均由多个圆形环组成；多个圆形环为同心圆环；每个圆形...
- 叶鑫唐烽李波郑万国吴卫东杨李茗李青芝邵婷邓青华吴之清石兆华周晓燕孙来喜黄进黎维华
- 文献传递
- HF酸刻蚀提升熔石英亚表面划痕抗损伤性能的机理被引量：4
- 2012年
- 用HF酸刻蚀熔石英元件,研究刻蚀对元件后表面划痕的形貌结构及损伤性能的影响,探索损伤阈值提升的原因.时域有限差分算法理论计算结果表明:对于含有50nm直径氧化锆颗粒的划痕,对入射光调制引发场增强的最大值是入射光强的6.1倍,且最强点位于划痕内部氧化锆颗粒附近,而结构相同但不含杂质的划痕引发的最大场增强为入射光强的3.6倍,最强区位于划痕外围;HF酸刻蚀能够有效去除划痕中的杂质,改变划痕结构,增加其宽深比值,经刻蚀的划痕对入射光调制引发场增强降低到入射光强的2.2倍.实验结果表明,经过深度刻蚀的划痕初始损伤阈值较刻蚀之前提高一倍多;光热弱吸收测试仪测试刻蚀后划痕对1 064nm激光的吸收最大值仅为230ppm.HF酸刻蚀同时可以提升元件整体损伤阈值,由于元件上无缺陷区域损伤阈值随刻蚀的深入先增加后降低,因此HF酸刻蚀应进行到元件损伤阈值提升到最大值为止.
- 王凤蕊郑直刘红婕黄进周信达蒋晓东吴卫东郑万国
- 关键词：熔石英
- 利用CO_2激光预处理提高熔石英基片的损伤阈值被引量：14
- 2007年
- 为了提高熔石英基片对351nm短波长激光的损伤阈值,采用光栅式扫描方式,利用CO2激光器输出10.6μm波长的激光,对氢氟酸蚀刻后的小口径熔石英基片表面进行功率周期递增的辐照扫描。结果表明,经过CO2激光预处理后的熔石英基片,表面微观形貌得到了有效改善;利用S:1的方法测量熔石英基片损伤阈值。结果发现,在中度激光抛光的程度下,其零概率损伤阈值提高了30%左右,且对透射波前没有造成不利影响,从而证明了CO2激光预处理提高熔石英基片抗激光损伤能力的有效性。
- 黄进吕海兵叶琳赵松楠王海军蒋晓东袁晓东郑万国
- 关键词：激光技术预处理CO2激光损伤阈值
- 对流自组装2维胶体晶体成膜趋势和覆盖率
- 2012年
- 从自组装理论出发,分析对流自组装2维胶体晶体中空白、条纹区域出现的机理,并在实验上予以验证。通过研究得知,2维胶体晶体的自组装过程呈现空白、条纹、大面积单层、双层条纹的趋势。从胶体晶体覆盖率的角度出发研究2维胶体晶体的组装参数与质量之间的关系,结果表明:胶体晶体的总覆盖率与基片提拉速度倒数呈线性正比,和粒子体积分数呈反比例函数关系;受到多种因素的影响,大面积2维胶体晶体总是伴随着一定比例的空白区域和双层区域出现,提拉法所能获得的最大单层覆盖率为95%。
- 叶鑫黄进周信达张继成蒋晓东吴卫东唐永建
- 关键词：聚苯乙烯微球
- 一种在光学元件表面制备定向微纳颗粒的装置和方法
- 本发明公开了一种在光学元件表面制备定向微纳颗粒的装置，包括密封腔室，所述密封腔室的两侧分别贯通连接有熔石英玻璃，调节机构，其设置在所述密封腔室内，所述调节机构位于两个所述熔石英玻璃之间，且所述调节机构上设置有光学元件；支...
- 牛龙飞苗心向姚彩珍周国瑞蒋一岚向思衡黄进
- 355nm皮秒激光辐照下熔石英的损伤特性被引量：2
- 2013年
- 利用光学元件激光损伤测试平台,测试了355nm皮秒激光辐照下熔石英光学元件的初始损伤及损伤增长情况,并通过荧光检测分析了损伤区缺陷。研究结果表明:皮秒激光较高的峰值功率导致熔石英损伤阈值较低,前表面损伤阈值为3.98J/cm2,后表面损伤阈值为2.91J/cm2;前后表面损伤形貌存在较大差异,后表面比前表面损伤程度轻且伴随体内丝状损伤;随脉冲数的增加后表面损伤直径增长缓慢,损伤深度呈线性增长;皮秒激光的动态自聚焦和自散焦导致熔石英体内损伤存在细丝和炸裂点重复的现象;与纳秒激光损伤相比,损伤区缺陷发生明显改变。
- 孟祥杰刘红婕王芳任维义张振安辛友黄进蒋晓东吴卫东
- 关键词：熔石英皮秒激光激光诱导损伤自聚焦
- 一种光学元件表面热敏性缺陷无损检测系统及方法
- 本发明公开了一种光学元件表面热敏性缺陷无损检测系统及方法，其中光学元件表面热敏性缺陷无损检测系统包括光学相干层析成像装置、激光泵浦装置和信号处理与控制模块。采用以上技术方案的一种光学元件表面热敏性缺陷无损检测系统及方法，...
- 姚霖黄进刘太祥李昌朋杨科严鸿维黄林
