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陈洪涛

作品数:3 被引量:5H指数:2
供职机构:防化研究院更多>>
相关领域:核科学技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇核科学技术
  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇计数管
  • 2篇GM计数管
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元器件
  • 1篇元器件
  • 1篇圆柱
  • 1篇使用寿命
  • 1篇可靠性
  • 1篇G-M计数管
  • 1篇LABVIE...
  • 1篇M

机构

  • 3篇防化研究院

作者

  • 3篇陈洪涛
  • 3篇张皓
  • 2篇张国明
  • 2篇怀光利
  • 2篇谢波
  • 2篇李继源
  • 1篇施寿朋
  • 1篇郑永春
  • 1篇邵晖
  • 1篇李志远

传媒

  • 1篇核电子学与探...
  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇第11届全国...

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2003
  • 1篇2002
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一款G-M计数管能量响应补偿软件的研究被引量:3
2012年
G-M计数管对低能光子的探测都存在过响应。若不进行补偿,其能量响应满足不了要求。常用的补偿方法是使用开孔的过滤片,若用实验的方法得出过滤片成分和开孔大小,过程往往比较复杂。论文借助MCNP5和LabVIEW软件,完成了一种G-M计数管能量补偿设计。该方法用MCNP5模拟计算裸管的能量响应值,然后在LabVIEW中应用该值计算出所需要的补偿材料成分、材料厚度、开孔率以及归一值。通过实验对计算出的结果进行了验证,结果表明补偿效果比较理想,完全满足仪器能响要求。
李志远郑永春张皓陈洪涛施寿朋邵晖
关键词:LABVIEW
一种圆柱金属卤素GM计数管
研究了一种新型GM计数管,并从环境适应性、辐射探测性、能量响应和角响应以及可靠性等方面详细介绍了其特性.
谢波李继源张国明怀光利陈洪涛张皓
关键词:GM计数管
文献传递
一种研究电子元器件失效规律的新方法被引量:2
2003年
提出并采用了一种研究GM管失效规律的新方法,利用该方法研究了两种GM管的失效规律,并据此确定其使用寿命为18~20年,在此期间的失效率分别为5×10-6/h和4×10-6/h。
谢波怀光利张国明陈洪涛张皓李继源
关键词:电子元器件GM计数管使用寿命可靠性
共1页<1>
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