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胡桂青
作品数:
6
被引量:4
H指数:1
供职机构:
中国科学院物理研究所
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发文基金:
国家自然科学基金
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相关领域:
电子电信
理学
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合作作者
段晓峰
中国科学院物理研究所
孔翔
中国科学院物理研究所
刘祥林
中国科学院半导体研究所
陆沅
中国科学院半导体研究所
孔翔
中国科学院物理研究所
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GAAS(0...
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BA
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机构
6篇
中国科学院
作者
6篇
胡桂青
5篇
段晓峰
2篇
陆沅
2篇
刘祥林
2篇
孔翔
2篇
孔翔
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万里
1篇
万里
1篇
孔祥
1篇
齐笑迎
1篇
赵柏儒
1篇
王乙潜
1篇
王乙潜
1篇
杨浩
传媒
3篇
电子显微学报
年份
1篇
2004
1篇
2003
4篇
2002
共
6
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Si(111)和GaAs(001)衬底上生长六方GaN的微结构及B<'+>注入Si形成位错的透射电子显微学研究
该论文利用透射电子显微学的分析技术研究了Si(111)和GaAs(001)衬底上生长的六方GaN的微结构及30KeVB<'+>注入Si后形成的位错.主要包括以下内容:1.研究了Si(111)衬底上生长的六方GaN的微结构...
胡桂青
关键词:
位错
SI
GAAS
ALN
文献传递
(111)Si上外延生长六方GaN的TEM观察
胡桂青
孔翔
王乙潜
万里
段晓峰
陆沅
刘祥林
文献传递
(001)SrTiO_3衬底上的Ba_(0.7)Sr(0.3)TiO_3/YBa_2Cu_3O_(7-δ)外延生长薄膜的界面结构研究
2004年
本文利用透射电子显微学和高分辨电子显微学研究了SrTiO3衬底上的Ba0 7Sr0 3TiO3 YBa2Cu3O7-δ(BST YBCO)外延薄膜的界面结构。结果表明在BST YBCO界面形成了阶梯(step terrace)结构,同时BST外延膜生长良好。在YBCO薄膜表面形成梯形结构后,也可能按照台阶生长(step flow)模型生长出完好的BST薄膜。
齐笑迎
杨浩
孔祥
胡桂青
段晓峰
赵柏儒
关键词:
结构参数
电子能量损失谱研究GaN的极性
2002年
孔翔
胡桂青
段晓峰
关键词:
电子能量损失谱
GAN
(111)Si上外延生长六方GaN的TEM观察
被引量:4
2002年
胡桂青
孔翔
王乙潜
万里
段晓峰
陆沅
刘祥林
关键词:
TEM
氮化镓
透射电子显微镜
薄膜生长
电子能量损失谱研究GaN的极性
孔翔
胡桂青
段晓峰
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