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文献类型

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领域

  • 4篇电子电信

主题

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机构

  • 5篇中国电子科技...

作者

  • 5篇家秀云
  • 4篇张世祖
  • 3篇陈宏泰
  • 3篇花吉珍
  • 3篇陈玉娟
  • 3篇杨红伟
  • 2篇彭海涛
  • 2篇沈牧
  • 1篇徐会武
  • 1篇安振峰
  • 1篇蒋红旺

传媒

  • 3篇微纳电子技术
  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2015
  • 2篇2009
  • 1篇2008
  • 1篇2004
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
基于腔面非注入技术的大功率半导体激光器被引量:3
2009年
采用腔面电流非注入技术,提高了808nm半导体激光器灾变性光学损伤(COD)阈值。通过腐蚀GaAs高掺杂层的方法,在半导体激光器腔面附近形成电流非注入区,以此来减少腔面处的载流子注入。载流子注入水平的降低,减少了腔面处非辐射复合的发生,因而提高了激光器的灾变性光学损伤阈值。应用电流非注入技术制作的器件的最大输出功率达到3.7W;而应用常规工艺制作的器件的最大输出功率为3.1W。同常规工艺相比,采用该技术使器件的最大输出功率提高了近20%。
张世祖杨红伟花吉珍陈宏泰陈玉娟家秀云徐会武沈牧
大功率激光二极管阵列正向特性研究
2008年
大功率激光二极管阵列的正向特性失效问题严重影响器件的成品率和可靠性。对典型的失效现象进行了分类,确认了主要的失效现象是正向漏电。结合分阶段测试统计和对失效样品的显微分析,确定了造成激光二极管漏电的主要工艺环节以及工艺过程中机械损伤造成二极管漏电的机理。基于分析结果,改进了芯片结构设计和芯片工艺夹具。对改进后的芯片进行了统计实验验证,结果表明,激光二极管阵列的正向漏电问题得到基本解决,正向特性成品率从60%提高到90%以上。
杨红伟张世祖陈玉娟家秀云
关键词:大功率激光二极管保护区成品率
大功率半导体激光器的腔面钝化被引量:4
2009年
大功率半导体激光器的腔面退化是影响其寿命和可靠性的重要因素,长期以来一直是人们关注和研究的重点。本文利用离子铣结合腔面钝化还原层的方法对大功率半导体激光器的腔面进行处理。结果显示,离子铣腔面钝化能够在一定程度上减少半导体激光器的功率退化,168h加速老化后退化幅度降低4.5%;同时该技术对老化过程中COD阈值降低有明显的抑制作用,可有效减少使用中的突然失效。结果表明,该技术能够改善半导体激光器的腔面特性,器件的可靠性和使用寿命可望得到提高。
彭海涛家秀云张世祖花吉珍杨红伟陈宏泰安振峰
关键词:半导体激光器可靠性
一种半导体激光器芯片腔面镀膜夹具
本实用新型属于半导体激光器镀膜工艺技术领域,具体公开了一种半导体激光器芯片腔面镀膜夹具,包括基体、滑块、夹持机构和底座,基体中部设有贯穿的通孔,通孔的中部设有垂直的一对平行滑轨,内置第一滑块和第二滑块,紧贴第一滑块设置有...
彭海涛蒋红旺张发智张世祖家秀云
文献传递
腔面低反射大功率半导体激光器阵列
2004年
光束质量问题是制约半导体激光器应用的主要因素,采用出光面蒸镀低反膜LD阵列半导体激光器阵列锁相技术较好地解决了这个问题。本文设计并制作了高反膜系和极低反膜系,获得了高阈值的LD阵列。本文的低反膜系有大的带宽和小于0.2%的剩余反射率,易于工艺实现,LD阵列的阈值电流密度达到480A/cm2。
陈宏泰花吉珍家秀云陈玉娟沈牧
关键词:半导体激光器阵列光束质量锁相技术
共1页<1>
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