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周金帅

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：清华大学更多>>
相关领域：金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

领域

  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 4篇光谱
  • 4篇光谱发射率
  • 4篇光学
  • 4篇光学常数
  • 2篇氧化层
  • 2篇氧化层厚度
  • 2篇实验台
  • 2篇数学
  • 2篇数学关系式
  • 2篇发射率
  • 2篇高温
  • 2篇高温氧化
  • 2篇测量方法

机构

  • 4篇清华大学

作者

  • 4篇宗安州
  • 4篇刘江帆
  • 4篇周金帅
  • 4篇汤龙生
  • 4篇邓兴凯
  • 4篇符泰然
  • 2篇谈鹏

年份

  • 2篇2015
  • 2篇2013
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
测量金属氧化层高温光学常数的方法
本发明涉及一种测量金属氧化层高温光学常数的方法，包括如下步骤：S1、提供多份氧化金属样品，分别测量每份氧化金属样品的金属氧化层的厚度；S2、采用真空变角度高温光谱发射率测量实验台，在真空环境下，分别对每份氧化金属样品进行...
符泰然刘江帆宗安州汤龙生周金帅邓兴凯
文献传递
金属氧化层高温光学常数测量方法
本发明涉及一种金属氧化层高温光学常数测量方法，其包括以下步骤：S1、提供多份具有不同厚度金属氧化层的氧化金属样品，分别测量多份氧化金属样品的金属氧化层的厚度；S2、利用高温光谱发射率测量实验台，在真空环境下分别测量多份氧...
符泰然宗安州刘江帆谈鹏汤龙生周金帅邓兴凯
金属氧化层高温光学常数测量方法
本发明涉及一种金属氧化层高温光学常数测量方法，其包括以下步骤：S1、提供多份具有不同厚度金属氧化层的氧化金属样品，分别测量多份氧化金属样品的金属氧化层的厚度；S2、利用高温光谱发射率测量实验台，在真空环境下分别测量多份氧...
符泰然宗安州刘江帆谈鹏汤龙生周金帅邓兴凯
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测量金属氧化层高温光学常数的方法
本发明涉及一种测量金属氧化层高温光学常数的方法，包括如下步骤：S1、提供多份氧化金属样品，分别测量每份氧化金属样品的金属氧化层的厚度；S2、采用真空变角度高温光谱发射率测量实验台，在真空环境下，分别对每份氧化金属样品进行...
符泰然刘江帆宗安州汤龙生周金帅邓兴凯
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