吴廷斌
- 作品数：9 被引量：36H指数：3
- 供职机构：上海交通大学材料科学与工程学院更多>>
- 发文基金：上海市科学技术委员会资助项目更多>>
- 相关领域：一般工业技术金属学及工艺更多>>
- 织构对NiTi合金相变伪弹性的影响及其计算机模拟被引量：1
- 2001年
- 近等原子比热轧态 Ni Ti合金板材有较显著的择优取向 ,使该合金的相变伪弹性呈现明显的各向异性 .拉伸实验表明 :拉伸轴沿与轧向成 45°夹角的方向 ,相变伪弹性最好 ;沿轧向 ,次之 ;沿横向 ,最差 .文中对 Ni Ti织构进行了取向分布函数定量分析 ,并改进了 Ni Ti单晶相变应变的晶格变形矩阵理论 ,以取向分布密度为加权因子 ,对该合金多晶的相变伪弹性进行了计算机模拟 ,所得结果与实测值吻合得较好 .
- 董荆山江伯鸿吴廷斌漆璿刘毓舒
- 关键词：镍钛合金伪弹性取向分布函数织构计算机模拟
- NiTi薄膜残余应力测试方法的探讨被引量：5
- 2007年
- 介绍了适用薄膜残余应力测量的弯曲法和X射线掠射法,重点介绍了一种新型测量薄膜残余应力的方法—纳米压痕法,并采用非球形压头纳米压痕法测量了NiTi薄膜的残余应力,对薄膜残余应力的测量进行了有益的探讨和尝试,结果表明纳米压痕技术可作为定性测量薄膜残余应力的有效手段。
- 周伟敏周平南吴廷斌
- 关键词：残余应力NITI
- TIG焊小电流接触引弧控制电路的研究被引量：1
- 1997年
- 分析了ＴＩＧ焊小电流接触引弧过程中瞬时短路电流、稳态短路电流、引弧电流和变化率、钨极和工件之间的空间电场强度及其变化率对引弧性能的影响。重点介绍了一种ＴＩＧ焊小电流接触引弧控制电路及工作原理。实际应用表明，电路设计合理、简单可靠，引弧性能良好，钨极损耗很小。
- 方臣富周方明邱俊吴廷斌
- 关键词：TIG焊小电流接触引弧控制电路
- NiTi形状记忆薄膜的应用及进展被引量：10
- 2001年
- 介绍了当前国内外NiTi薄膜在以微机电系统 (MEMS)为主的诸多领域中的应用研究情况 ,分析了存在的问题 ,并展望了今后的发展前景。
- 吴廷斌江伯鸿漆璿
- 关键词：形状记忆合金
- 等温时效过程Cu-Al-Be形状记忆合金内耗行为研究被引量：3
- 1999年
- 对ＣｕＡｌＢｅ合金在等温时效过程中的内耗特性进行了研究。结果表明，等温时效时该合 金内耗主要是由应力诱发马氏体相变和Ｍ／Ｍ、Ｐ／Ｍ界面在交变应力下的粘滞性迁移所引起的。 时效过程中，合金内耗迅速下降，至一定值后趋于稳定，且大小受测量频率影响。在马氏 体态时效时，内耗衰减曲线出现峰值，这与试样中的淬火空位及其在时效时的界面扩散有 关。
- 吴廷斌谢春生刘和法
- 关键词：内耗阻尼形状记忆合金
- NiTi形状记忆合金薄膜的残余应力被引量：13
- 2001年
- 采用 X射线掠射法和轮廓法 ,测量了单晶 Si基板上用磁控溅射法制备的 Ni Ti形状记忆合金薄膜的残余应力 ,分析了其与薄膜厚度以及晶化处理温度等工艺条件的关系 .结果表明 :该薄膜中的残余应力主要来源于薄膜同基板材料的膨胀系数和晶格参数不匹配 ;薄膜厚度越大 ,残余应力越小 ;晶化处理温度对因热胀系数差异带来的热拉应力因马氏体相变而致的相变压应力均有不同程度的影响 .
- 吴廷斌漆璿王文杰董荆山江伯鸿王莉蔡炳初
- 关键词：形状记忆合金残余应力镍钛
- NiTi形状记忆合金的织构及残余应力
- NiTi形状记忆合金由于具有出色的形状记忆效应(SME)和超弹性(PE)效应而倍受人们关注.由材料的各向异性现象和薄膜器件制造中的应力失效出发,该文选择织构和残余应力为目标对NiTi形状记忆合金进行相关的系统研究.理论方...
- 吴廷斌
- 关键词：形状记忆合金NITI残余应力各向异性
- 文献传递
- TIG焊小电流接触引弧控制电路的研究被引量：1
- 1999年
- 分析了ＴＩＧ焊小电流接触引弧过程中瞬时短路电流、稳态短路电流、引弧电流及其变化率、钨极与工件之间的空间电场强度及其变化率对引弧性能的影响，重点介绍了一种ＴＩＧ焊小电流接触引弧控制电路及工作原理。实际应用表明，电路设计合理、简单可靠，引弧性能良好，钨极损耗很小。
- 方臣富周方明邱俊吴廷斌
- 关键词：控制电路TIG焊接触引弧惰性气体保护焊
- Cu-Al-Be形状记忆合金的低频相变内耗研究被引量：3
- 1999年
- 在变频、变温、变振幅的条件下，对ＣｕＡＩＢｅ合金的低频相变内耗进行了研究、结果表明：ＣｕＡＩＢｅ合金的连续变温相变内耗峰峰高Ｑｍ－１与变温速率ｖ和振动频率ｆ都有关，但与v、1/f或v/f都成非线性关系；峰温Tp与f无关，随v的增大而升高;温度低于Ｍｓ时，合金内耗Ｑ－１与应变振幅Aε呈线性关系。
- 吴廷斌刘和法谢春生
- 关键词：马氏体相变形状记忆合金内耗
