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李梅
作品数:
4
被引量:1
H指数:1
供职机构:
中国科学院长春物理所
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相关领域:
理学
电子电信
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合作作者
吕安德
中国科学院长春物理所
孔祥贵
中国科学院长春物理所
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Ge_xSi_(1-x)/Si应变超晶格的质量鉴别
1996年
采用分子束外延(MBE)方法生长了GexSi1-x/Si应变超晶格.利用X射线双晶衍射、小角衍射和宽角衍射方法测量了超晶格样品的实验衍射曲线.运用X射线运动学理论和动力学理论,分析、模拟了样品的实验曲线,得到了精确的定量结构参数数据.并根据实验曲线中衍射峰的位置和分布情况对应变超晶格的生长质量做了评价.
李梅
葛中久
张志舜
关键词:
应变层超晶格
超晶格
InP表面对CuPc LB膜的影响及其低温效应
1992年
研究发观CuPc LB薄膜和粗糙的InP表面之间存在着相互作用。这种相互作用对吡咯的CN伸缩的正则振动模影响较强。除此之外,还研究了处在室温和液氮温度下分别吸附于Au和InP表面上的CuPc LB膜的X射线衍射谱,发现CuPc LB膜在低温下发生了可逆的结构相变。
孔祥贵
李梅
吕安德
金周哲
鄂书林
关键词:
CUPC
LB膜
北——花生酸Langmair-Blodge薄膜的制备及其光学性质
吕安德
李梅
关键词:
薄膜生长
光学性质
半导体异质外延薄膜质量的X射线衍射检测方法
被引量:1
1996年
本文介绍了一种使用X射线宽角测角仪和双晶测角仪相配合的检测半导体异质外延薄膜的方法.其特点是快速且不损伤样品,特别适合大失配度的外延生长的条件试验检测,也可用于器件生产过程中的外延质量的监控.此法还可用于各种超晶格结构参数的测量.
葛中久
李梅
张志舜
冯禹臣
关键词:
X射线检测
半导体薄膜
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