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一种基于弹体外形尺寸的药室容积超声测量方法被引量：2: 2013年; 药室容积是影响内外弹道性能的重要参数之一。针对传统的测量方法效率低、精度不高,设计了一种基于战斗部外形尺寸的超声测量系统。首先通过超声探头的直线移动与弹体以轴线为中心的转动,测量炮弹战斗部任意位置的壁厚;然后结合已知的外形几何尺寸计算药室不同部位的内截面圆、直径,以及药室内的区间长度;最后计算药室容积,进行误差分析。实际验证表明,可以一次性完成全部药室参数的自动测量任务,便于实现自动检测。; 韩跃平韩焱; 关键词：外形尺寸

基于灰色简化B型关联度的图像边缘检测被引量：4: 2017年; 鉴于传统的灰色边缘检测算法在阈值选取上需要人工干预,不具备自适应能力,提出了基于灰色简化B型关联度的自适应阈值选取进行图像边缘检测新算法。首先,用标准差化矩阵算子对图像灰度值进行预处理;其次,在3×3的像素模板上,将预处理后的中心像素点及周围8个像素点的数值一维化作为比较序列,并将这9个像素点的均值作为参考序列;最后,利用简化B型关联度计算两者之间的灰关联度,根据迭代算法求取灰色简化B型关联度的最佳阈值来检测图像边缘。实验结果表明,所提算法对灰度变化剧烈的图像具有较强的适应性,检测边缘清晰准确,比传统的邓氏相关度边缘检测算法能够更好的抑制噪声。; 李会鸽韩跃平郭静; 关键词：边缘检测灰度图像迭代算法

产品表面检测的变步长采样机制研究被引量：1: 2017年; 针对产品表面缺陷检测系统中,由于定步长数据采集造成数据冗余量大、工作效率低的现象,提出变步长自适应的数据采集方式,以信号变化为采样依据实现调频。首先,基于采样步长的影响因素(乃奎斯特采样定理、识别尺寸、弧度畸变及空间畸变),推导出采样步长的函数关系表达式。其次,采用Matlab仿真平台,利用最小二乘法拟合,具体分析并验证被检产品各待检区域通过公式计算得到的采样步长均在95%的置信区间内。实验表明:推导出的采样步长公式为产品各待检区域旋转步长的合理选取提供理论依据;该模式可以根据不同信号实现频率自适应调节,可提高获取信息的利用率并减少数据冗余。; 郭静韩跃平贾志前李会鸽; 关键词：数据采集数据拟合

基于最优识别区间的变步长产品表面缺陷检测研究被引量：1: 2013年; 为实现对产品表面多个待检区域准确快速的检测,在最优识别区间内采用变步长机制快速获取待测产品的周向方位图像序列,实现在有限方位下利用不完全数据对多个待识别区域的快速检测。首先通过相关度计算及投影法确定各待检区域的最优识别区间和旋转步长,其次采用尺度不变特征变换(SIFT)算法与折半查找法确定随机摆放的待检产品在标准库中的最优位置信息,最后通过相关度计算判别各区域有无缺陷。实验表明在保证检测准确率的前提下,基于最优识别区间的变步长方法比传统全周向固定步长检测平均可节省6.37s。; 徐青韩跃平杨志刚孙宝华; 关键词：图像处理尺度不变特征变换算法

基于X射线立体视觉的产品装配结构自动检测技术研究被引量：3: 2013年; 对于产品内部零部件的漏装、错装及相互之间空间位置关系是否正确的快速自动无损检测,依旧是行业内没有很好解决的难题。研制了基于单相机的X射线视觉检测系统,获取产品在全周向视角下垂直于射线光路的图像序列,提取识别特征,完成快速自动识别。研究了系统成像的物理机理,提出了空间采样频率与先验已知的最小结构尺寸及系统分辨率之间关系的空间采样准则,保障空间结构信息的完整获取;剖析序列图像之间的有序相关性,实现在单一或有限方位下利用不完全数据的快速识别理论。统计结果表明,在平均误检率小于4.5%的情况下,系统对每个产品的平均识别时间小于5s。; 韩跃平李瑞红; 关键词：成像系统 X射线结构识别

基于光锥的X射线探测器耦合方法被引量：3: 2015年; 针对传统的纤维光锥耦合式X射线探测器存在"多余"的耦合界面层会造成光通量损失,降低探测器的空间分辨率等问题,提出了基于电荷耦合器件(CCD)的光锥直接耦合方法。该方法采用带有高增益微通道板的图像增强器实现前置放大,像增强器通过纤维光锥直接与CCD的光敏面耦合,既作为光学转换器件,也起到放大作用。实验表明:这种耦合方法减少了光损失,空间分辨率提高一倍以上。; 韩跃平李瑞红韩焱; 关键词：X射线探测器高分辨率

复杂产品内部结构装配正确性X射线自动检测系统的研究被引量：6: 2012年; 为了解决无损检测领域内结构体快速识别的问题,综合多目视觉检测技术与CT检测思想,研究了一种基于单相机的X射线在线自动检测某复杂机械产品内部结构装配正确性的系统,并将其应用于实际生产检测线。采用硬件三点定位与局部区域积分投影求后向差分极值点相结合的方法实现目标的快速定位;提取产品全方位序列图像的分层面混合投影主分量熵作为识别特征;采用BP神经网络的并行运算能力实现对产品的快速分类识别。除上下料外,检测过程全部实现了计算机自动控制。大量实测统计表明,系统误判率≤4.5%,无漏判,平均检测速度小于5 s.; 韩跃平韩焱王黎明潘晋孝; 关键词：信息处理技术自动识别系统设计

数字功率放大电路工作原理与功率损耗实例分析: 2015年; 当前国内高校的"电子线路"课程无论是从教材编写还是课堂讲授中的功率放大电路仍然以模拟功放为主,对数字功放讲述甚少,而现实中电子产品尤其是笔记本电脑、手机等便携式电子产品大量采用了低功耗高集成度的数字开关门电路芯片,造成大学生课堂学习与电子技术发展实际的脱节。在此结合数字集成开关门(CMOS)电路的发展,详细分析了D类功率放大电路的工作原理;理想状态下,D类功率放大电路的理论效率可达到100%,远高于AB类模拟功率放大电路的78.5%。推导了D类功率放大电路CMOS反相器的功率损耗与芯片工作的时钟频率、栅极集总电容值以及芯片所需的供电电压的平方成正比,并以当前主流的集成度达8 000万个门电路(2 inch2上108个门)的IBM笔记本电脑的CPU芯片为实际案例进行了总功耗分析。实践表明,将数字功率放大电路引入大学生课堂教学,可以贴近实际,增强感性认识,提高课堂教学质量。; 韩跃平李瑞红毕满清王黎明; 关键词：数字功率放大器功率损耗实例分析

X射线晶体光学性能光电综合测试方法: 2014年; 报道了一种针对X射线转换晶体光学性能综合测试的光电检测方法。从效能角度对测试装置进行优化,对系统固有的工频干扰与尖峰脉冲噪声采取了有效抑制措施。利用该装置测试了山西长城微光器材股份有限公司研制的某未知闪烁晶体的可见光光谱响应、光学转换效率、空间分辨率等性能。研究的光电综合测试方法为闪烁晶体材料的研制提供了一种性能测试借鉴。; 韩跃平李瑞红; 关键词：闪烁晶体光学性能光谱响应

基于变步长采样的产品表面缺陷检测研究被引量：2: 2013年; 为了实现复杂产品结构质量的准确快速检测,对于产品表面有多种结构体及空间尺寸的待检区域,采用变步长采样机制快速获取待测产品的周向方位图像序列,实现在有限方位下利用不完全数据对多个待识别区域的快速检测。首先采用垂直投影法确定各待检区域的旋转步长,为保证标准库中信息的完整性选一最小步长作为合格品的采样步长。其次采用尺度不变特征变换(SIFT)算法与折半查找法确定随机摆放的待检产品在标准库中的最优位置信息。最后通过相关度计算判别各区域有无缺陷。实验表明在保证检测准确率的前提下,采用变步长机制比固定步长检测平均可节省4.14s。; 徐青韩跃平杨志刚; 关键词：投影法尺度不变特征变换算法

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山西省自然科学基金(2012011010-3)

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机构

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