中国人民解放军总装备部预研基金(51317040204)
- 作品数：6 被引量：11H指数：2
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- 相关机构：北京航天测控技术有限公司中国人民解放军海军装备部更多>>
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- 相关领域：自动化与计算机技术电气工程更多>>
- 一种兼容IEEE1149.1接口的模拟电压监测器的应用
- 2010年
- 针对模拟电压监测的技术现状,提出以支持IEEE1149.1接口标准的模拟电压监测器进行电压监测电路设计;简要介绍了模拟电压监测器的基本结构、操作原理和应用方式;通过实际电压电路可测性设计方案的制定分析、实验和测试,说明了该电压监测器的优势和特点;同时,文中提出应用FPGA作为内建自测试(BIST)控制器执行监测操作,是边界扫描技术与BIST技术结合应用的一次创新;最后的应用结果表明,该监测器的使用为电路设计人员的可测性设计提供了一种新思路和参考方法。
- 杜影王石记安百岳
- 关键词：边界扫描测试可测试性设计内建自测试
- 基于FPGA的板级BIST设计和实现策略被引量：7
- 2008年
- 为解决复杂电路板的测试问题,边界扫描、内建自测试等可测性设计技术相继发展,针对目前板级可测性设计发展状况,提出了基于FPGA的板级BIST设计策略;通过阐述存储器模块、逻辑模块和模拟模块三大部分的BIST设计,说明了基于FPGA进行板级模块BIST设计的灵活性和优势;最后,给出了在FPGA内构建BIST控制器的方法,并介绍了FPGA自测试的实现以及在板级设计过程中要考虑的问题。
- 杜影赵文彦安佰岳
- 关键词：BIST可测性DFTFPGA控制器
- 数据采集器的可测性设计与评估
- 2014年
- 针对数模混合系统的快速诊断维修问题,以数据采集器作为对象,研究典型数模混合系统的可测性设计及评估;文章首先介绍了两种先进的可测性设计技术:边界扫描技术和内建自测试技术;以某数据采集系统为对象,阐述其关键性能指标,并依据"分块设计"的方法分析了系统各个测试模块的故障类型和采用的可测试性设计方案;最后,利用TEAMS软件建立了数据采集系统的基于多信号流的模型,经计算及仿真对比了可测性设计前后的测试性设计指标;仿真结果表明,增加可测性设计,可以提高电子系统的故障检测率和隔离率,但要增加测试代价,并在一定程度上降低系统的可靠性。
- 杜影翁璐徐鹏程李洋
- 关键词：可测性数模混合内建自测试
- 数字IO电路板的嵌入式测试性设计方案被引量：1
- 2014年
- 近年来,随着DSP、FPGA等大规模集成电路的发展,电子系统的性能也在大大提高,但同时给电子系统带来了新的测试和故障诊断问题;为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;文中从嵌入式测试的基本概念出发,介绍了嵌入式边界扫描、非侵入式测试等先进的板级嵌入式测试技术,并阐述了模拟嵌入式测试性设计的难点和基础电路原则,同时给出了基于FPGA的嵌入式测试控制器设计方案;然后,面向数字IO电路板,针对其关键功能电路展开嵌入式测试性设计,简要说明了测试程序的开发与下载;根据测试验证结果,嵌入式测试性设计可以增强测试自动化、提高测试效率,从而能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。
- 杜影吴朝华李洋徐鹏程
- 关键词：嵌入式测试可测性BIST
- 基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案被引量：2
- 2014年
- 为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;嵌入式测试性设计,是将自动故障检测和诊断功能内置于电路板中,利用嵌入式测试控制器,在UUT内部实现故障检测;边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌人式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新发展方向;文章首先概述了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成技术,最后以数字IO电路板为对象进行了测试性设计与验证,并给出结论;总体上,嵌入式测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。
- 杜影李洋徐鹏程王石记安佰岳郑义
- 关键词：嵌入式测试可测性微控制器
- 一种嵌入式边界扫描测试数据压缩及合成方法被引量：1
- 2015年
- 随着嵌入式测试概念的产生,边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌入式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新研究方向;嵌入式边界扫描是电路板级故障检测的必然发展趋势;文中首先介绍了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种嵌入式边界扫描测试数据压缩及合成方法,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成及下载,最后以某数字电路板为对象进行了嵌入式边界扫描测试验证,并给出结论;总体上,嵌入式边界扫描测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。
- 杜影徐鹏程李洋
- 关键词：嵌入式测试可测性
