2024年11月19日
星期二
|
欢迎来到营口市图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
国家科技重大专项(2009ZX02040)
作品数:
1
被引量:1
H指数:1
相关作者:
张苗
魏星
薛忠营
王曦
林成鲁
更多>>
相关机构:
上海新傲科技股份有限公司
中国科学院
更多>>
发文基金:
上海市国际科技合作基金
上海市自然科学基金
国家自然科学基金
更多>>
相关领域:
一般工业技术
更多>>
相关作品
相关人物
相关机构
相关资助
相关领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
1篇
中文期刊文章
领域
1篇
一般工业技术
主题
1篇
形貌
1篇
注氧隔离
1篇
界面形貌
1篇
绝缘
1篇
绝缘体
1篇
SOI
1篇
硅
机构
1篇
中国科学院
1篇
上海新傲科技...
作者
1篇
武爱民
1篇
张波
1篇
林成鲁
1篇
王曦
1篇
薛忠营
1篇
魏星
1篇
张苗
传媒
1篇
科学通报
年份
1篇
2010
共
1
条 记 录,以下是 1-1
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
两步氧离子注入工艺制备SOI材料研究
被引量:1
2010年
研究了200keV注入能量下,单步氧离子注入工艺制备SIMOX材料的剂量窗口.在此基础上,提出了一种第一步注入剂量为3.6×1017cm-2、第二步注入剂量为3×1015cm-2的改进型两步氧离子注入工艺,用于制备高质量的SIMOX材料.与单步氧离子注入工艺的剂量窗口相比,注入剂量减少了18.2%.采用椭圆偏振测试仪测量了所制备样品的埋氧层厚度及均匀性.通过透射电子显微镜观察到无缺陷的顶层硅以及原子级陡峭的顶层硅/埋氧层界面,表明两步氧离子注入工艺制备的SIMOX材料具有高的顶层硅晶体质量和剖面结构.采用原子力显微镜对比研究了单步和两步氧离子注入工艺制备的SIMOX材料顶层硅/埋氧层界面形貌.
魏星
薛忠营
武爱民
王湘
李显元
叶斐
陈杰
陈猛
张波
林成鲁
张苗
王曦
关键词:
界面形貌
注氧隔离
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张