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四川省国际科技合作与交流研究计划项目(2010HH0026)

作品数:1 被引量:13H指数:1
相关作者:赖伟恩陈智文岐业赵碧辉董凯更多>>
相关机构:电子科技大学更多>>
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相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 1篇调制
  • 1篇氧化钒薄膜
  • 1篇太赫兹
  • 1篇太赫兹波
  • 1篇绝缘
  • 1篇绝缘体
  • 1篇二氧化钒
  • 1篇二氧化钒薄膜

机构

  • 1篇电子科技大学

作者

  • 1篇邱东鸿
  • 1篇孙丹丹
  • 1篇张怀武
  • 1篇董凯
  • 1篇赵碧辉
  • 1篇文岐业
  • 1篇陈智
  • 1篇赖伟恩

传媒

  • 1篇物理学报

年份

  • 1篇2013
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
二氧化钒薄膜低温制备及其太赫兹调制特性研究被引量:13
2013年
针对二氧化钒(VO2)薄膜在可调谐太赫兹功能器件中的应用,利用低温磁控溅射技术,在太赫兹和光学频段透明的BK7玻璃上制备出高质量的VO2薄膜.晶体结构和微观形貌分析显示薄膜为单相VO2单斜金红石结构,具有明显的(011)晶面择优取向,结构致密,表面平整.利用四探针技术和太赫兹时域光谱系统分析了薄膜的绝缘体-金属相变特性,发现相变过程中薄膜电阻率变化达到4个数量级,同时对太赫兹透射强度具有强烈的调制作用,调制深度高达89%.通过电学相变和太赫兹光学相变特性的对比研究,证实薄膜的电阻率突变主要与逾渗通路的形成有关,而太赫兹幅度的调制则来源于薄膜中载流子浓度的变化.该薄膜制备简单,成膜质量高,太赫兹调制性能优异,可应用于太赫兹开关和调制器等集成式太赫兹功能器件.
孙丹丹陈智文岐业邱东鸿赖伟恩董凯赵碧辉张怀武
关键词:二氧化钒薄膜太赫兹波调制
共1页<1>
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