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中央高校基本科研业务费专项资金(10312E0220502051)
作品数:
1
被引量:4
H指数:1
相关作者:
周建军
陈勇波
徐跃杭
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国云川
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周建军
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2011
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GaN高电子迁移率晶体管高频噪声特性的研究
被引量:4
2011年
基于FUKUI噪声模型,分析了GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)器件的高频噪声特性,结果表明,由于GaN HEMT具有更高的临界电场和更大的电子饱和速度,与第2代半导体器件(GaAs HEMT等)相比具有更优越的噪声性能。对近10多年来国内外在GaN HEMT低噪声器件及其低噪声功率放大器单片集成电路(MMIC)方面的研究进行了综述,并分析了GaN HEMT在低噪声应用领域目前存在的主要问题及其发展趋势。
陈勇波
周建军
徐跃杭
国云川
徐锐敏
关键词:
低噪声放大器
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