您的位置: 专家智库 > >

中央高校基本科研业务费专项资金(2011-IV-038)

作品数:2 被引量:7H指数:1
相关作者:张建沈强张联盟罗国强李美娟更多>>
相关机构:武汉理工大学更多>>
发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金更多>>
相关领域:金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇金属学及工艺

主题

  • 2篇显微组织
  • 2篇接头
  • 2篇焊接接头
  • 1篇真空
  • 1篇真空扩散
  • 1篇真空扩散焊
  • 1篇显微结构
  • 1篇扩散焊
  • 1篇剪切强度
  • 1篇TA
  • 1篇
  • 1篇

机构

  • 2篇武汉理工大学

作者

  • 2篇罗国强
  • 2篇张联盟
  • 2篇沈强
  • 2篇张建
  • 1篇魏琴琴
  • 1篇王仪宇
  • 1篇李美娟

传媒

  • 1篇材料科学与工...
  • 1篇稀有金属材料...

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2012
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
钼铜扩散焊接接头界面显微组织被引量:7
2012年
采用扩散焊接方法对钼铜异种材料进行了焊接,研究了直接焊接和加镍作为中间层焊接对焊接接头界面显微组织的影响,通过SEM、EDS、EPMA、XRD等测试方法对其显微结构进行了表征.结果表明,直接焊接时,焊接界面结合紧密,Mo、Cu原子之间相互扩散形成扩散层,接头断裂发生在扩散层,由于柯肯达尔效应作用,在铜侧形成少量孔洞,孔洞的存在使焊接接头性能降低;加镍中间层焊接时,接头抗拉强度高于直接焊接时抗拉强度,Mo/Ni和Ni/Cu界面结合紧密,Mo/Ni界面形成固溶体层,接头断裂发生在Mo/Ni界面处,断口呈典型的脆性断裂特征.
张建罗国强李美娟王仪宇沈强张联盟
关键词:显微组织
93W/Ni/Ta扩散焊接接头的显微结构和力学性能
2014年
采用真空扩散焊接的方法获得了93W/Ni/Ta扩散焊接接头。利用万能试验机测试焊接接头剪切强度,通过XRD,SEM,EDS对焊接接头的物相组成和显微结构进行了分析。结果表明,93W/Ni/Ta扩散焊接接头剪切强度随焊接温度和保温时间的增加而增加,最大值达到244 MPa。焊接接头主要由Ni/Ta和93W/Ni界面组成,界面处金属间化合物分别为hcp-Ni3Ta,fcc-Ni3Ta,Ni2Ta和Ni4W。接头断裂发生在Ni/Ta界面处,表明Ni/Ta界面为接头的弱结合处。焊接接头界面的形成主要分为物理接触、固溶体形成、金属间化合物形成和金属间化合物长大4个阶段。
罗国强张建魏琴琴沈强张联盟
关键词:TA真空扩散焊剪切强度显微组织
共1页<1>
聚类工具0