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江苏省自然科学基金(BK2011010)

作品数:5 被引量:4H指数:1
相关作者:刘斌张荣谢自力修向前韩平更多>>
相关机构:南京大学微波毫米波单片集成和模块电路国家级 重点实验室南京信息工程大学更多>>
发文基金:江苏省自然科学基金国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 3篇发光
  • 3篇GAN
  • 2篇氮化镓
  • 2篇电极
  • 2篇气相外延
  • 2篇氢化物气相外...
  • 1篇氮化铟
  • 1篇电极材料
  • 1篇电子学
  • 1篇新型电极材料
  • 1篇氧化铟
  • 1篇氧化铟锡
  • 1篇阴极射线
  • 1篇阴极射线发光
  • 1篇应力
  • 1篇应力分析
  • 1篇石墨
  • 1篇石墨烯
  • 1篇无电极
  • 1篇物性研究

机构

  • 5篇南京大学
  • 1篇南京晓庄学院
  • 1篇南京信息工程...
  • 1篇枣庄学院
  • 1篇微波毫米波单...
  • 1篇南京大学扬州...

作者

  • 5篇谢自力
  • 5篇张荣
  • 5篇刘斌
  • 4篇陈鹏
  • 4篇韩平
  • 4篇修向前
  • 3篇郑有炓
  • 2篇华雪梅
  • 2篇施毅
  • 1篇陆海
  • 1篇俞慧强
  • 1篇刘战辉
  • 1篇张李骊
  • 1篇吴才川
  • 1篇徐庆君
  • 1篇顾书林
  • 1篇苏静
  • 1篇陈辰
  • 1篇张雅男
  • 1篇单云

传媒

  • 1篇激光与光电子...
  • 1篇高技术通讯
  • 1篇光谱学与光谱...
  • 1篇微纳电子技术
  • 1篇中国科学:物...

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 2篇2013
  • 1篇2012
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
氢化物气相外延生长的GaN膜中的应力分析被引量:1
2013年
对在c面蓝宝石上用氢化物气相外延法(HVPE)生长的六方相纤锌矿结构的GaN膜中的应力进行了分析。高分辨X射线衍射(002)面和(102)面摇摆曲线扫描(半高宽数值分别为317和358角秒)表明生长的GaN膜具有较好的晶体质量。利用高分辨X射线衍射技术准确测量了制备的GaN膜的晶格常数,并计算得到GaN膜中面内双轴应变和面外双轴应变分别为3.37×10-4和-8.52×10-4,等静压应变为-7.61×10-5。拉曼光谱和激光光致发光谱测试表明HVPE-GaN外延膜具有较好的光学特性,利用拉曼光谱的E2模式特征峰和激光光致发光谱中近带边发射峰的频移定量计算了外延膜中的面内双轴压应力和等静压应力。两种方法得到的面内双轴压应力较为相符。
刘战辉修向前张李骊张荣张雅男苏静谢自力刘斌单云
关键词:氮化镓氢化物气相外延拉曼光谱应力
新型电极材料石墨烯在LED中的应用被引量:2
2013年
石墨烯具有独特的力学、热学和光电学性能,良好的热稳定性与化学稳定性,是制备高性能导电薄膜的理想材料之一。主要介绍了石墨烯薄膜的制备和表征技术以及石墨烯导电薄膜作为电极应用在GaN基LED中的研究进展和存在的问题,并对石墨烯电极的应用前景进行了展望。
吴才川刘斌谢自力修向前陈鹏韩平张荣孔月婵陈辰
关键词:光电子学石墨烯氧化铟锡发光二极管
无电极光助化学腐蚀法制备GaN微/纳米结构及其物性研究
2015年
利用K2S2O8作为氧化剂,通过无电极光助化学腐蚀GaN外延层制备多种形貌的GaN微米/纳米结构.采用扫描电子显微镜(SEM)、阴极射线发光图(CL mapping)、高分辨X射线衍射(HRXRD)、拉曼光谱(Raman spectra)和光致发光谱(PL)等先进的表征手段研究腐蚀样品的形貌、晶体结构和光学性质.结果表明:在高浓度的KOH(1 mol/L)和低强度的紫外光照下,腐蚀出高质量的腐蚀坑、微米/纳米柱和纳米线;在低浓度KOH(0.4 mol/L)和高强度的紫外光照下,制备出GaN棱锥,研究发现此微米/纳米锥体阵列为包裹了位错的GaN晶体.在腐蚀液KOH浓度低至0.1 mol/L时,GaN腐蚀样品表面形成大量的晶须,聚集成束,晶须揭露了位错;并探讨了多形貌微米/纳米GaN的形成机理.腐蚀温度和GaN外延层极性对腐蚀形貌也具有明显的影响.
张士英修向前徐庆君王恒远华雪梅谢自力刘斌陈鹏韩平陆海顾书林张荣郑有炓
GaN电感耦合等离子体刻蚀的优化和损伤分析被引量:1
2012年
通过分别改变电感耦合等离子体(ICP)刻蚀过程中的ICP功率和DC偏压,对ICP刻蚀GaN材料的工艺条件和损伤情况进行了系统的研究。刻蚀后表面的损伤和形貌通过扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、电子能谱(EDS)、荧光光谱(PL)等技术进行表征和分析。实验结果表明,刻蚀速率随ICP功率和DC偏压的增加而增加;刻蚀损伤与DC偏压成正比,而与ICP功率的关系较为复杂。实验中观测到刻蚀后GaN样品的荧光光谱带边发射峰和黄带发射峰的强度均有明显下降,这意味着刻蚀产生的缺陷中存在非辐射复合中心,并且该非辐射复合中心的密度与DC偏压成正比。为了兼顾高刻蚀速率和低刻蚀损伤,建议使用高ICP功率(>450 W)和低DC偏压(<300 V)进行ICP刻蚀。
滕龙于治国杨濛张荣谢自力刘斌陈鹏韩平郑有炓施毅
关键词:功率
用氢化物气相外延(HVPE)法生长的氮化铟薄膜的性质研究
2014年
在自制设备上用氢化物气相外延(HVPE)方法在α-Al_2O_3以及GaN/α-Al_2O_3衬底上生长了InN薄膜,并对其性质进行了研究。重点研究了生长温度的变化对所获得的InN薄膜的影响,并利用X射线衍射研究了InN薄膜的结构,用扫描电子显微镜研究了其表面性质,用霍尔测量研究了其电学性质。x射线衍射的结果表明,直接在α-Al_2O_3上生长得到的是InN多晶薄膜;而在GaN/α-Al_2O_3上得到的InN薄膜都只有(0002)取向,并且没有金属In或是In相关的团簇存在。综合分析可以发现,在650℃时无法得到InN薄膜,而在温度550℃时生长的InN薄膜具有光滑的表面和最好的晶体质量。
俞慧强修向前张荣华雪梅谢自力刘斌陈鹏韩平施毅郑有炓
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