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国家重点基础研究发展计划(2000036501)

作品数:6 被引量:8H指数:2
相关作者:黄如张国艳王文平田豫陈国良更多>>
相关机构:北京大学加利福尼亚大学更多>>
发文基金:国家重点基础研究发展计划国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 6篇电子电信

主题

  • 3篇MOSFET
  • 2篇结构优化
  • 2篇BODY
  • 1篇低功耗
  • 1篇电压
  • 1篇短沟效应
  • 1篇新器件
  • 1篇亚微米
  • 1篇深亚微米
  • 1篇特性分析
  • 1篇阈电压
  • 1篇微米
  • 1篇功耗
  • 1篇SOI_MO...
  • 1篇SOI器件
  • 1篇ULTRA
  • 1篇DTMOS
  • 1篇HALO
  • 1篇LDD
  • 1篇MOLE

机构

  • 6篇北京大学
  • 1篇加利福尼亚大...

作者

  • 6篇黄如
  • 2篇王文平
  • 2篇张国艳
  • 2篇田豫
  • 1篇何进
  • 1篇陈国良
  • 1篇王阳元
  • 1篇张兴

传媒

  • 5篇Journa...
  • 1篇电子学报

年份

  • 1篇2005
  • 1篇2004
  • 3篇2003
  • 1篇2002
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
Design Guideline of Ultra Thin Body MOSFET
2004年
Simulation method is used to provide a guideline f or ultra thin body(UTB) MOSFET designs.Three important parameters of the UTB MOS FE T,i.e.the raised S/D height,Ge mole fraction of the Ge xSi 1-x gate,and the silic on body thickness,are comprehensively analyzed and optimized.The optimal region of feasible Ge mole fraction and the silicon body thickness for low operating po wer device are given.As the simulation results show that through changing Ge mole fraction coupl ed with the silicon body thickness tuning,UTB device with good performance can b e obtained.
王文平黄如张国艳
50nmSOI-DTMOS器件的性能被引量:2
2003年
利用二维器件模拟软件ISE对 5 0nm沟道长度下SOI DTMOS器件性能进行了研究 ,并与常规结构的SOI器件作了比较 .结果表明 ,在 5 0nm沟长下 ,SOI DTMOS器件性能远远优于常规SOI器件 .SOI DTMOS器件具有更好的亚阈值特性 ,其亚阈值泄漏电流比常规SOI器件小 2~ 3个数量级 ,从而使其具有更低的静态功耗 .同时 ,SOI DTMOS器件较高的驱动电流保证了管子的工作速度 ,并且较常规SOI器件能更有效地抑制短沟道器件的穿通效应、DIBL及SCE效应 ,从而保证了在尺寸进一步减小的情况下管子的性能 .对SOI DTMOS器件的物理机制进行了初步分析 ,揭示了其性能远优于常规结构的物理本质 ,同时也指出了进一步研究的方向 .
陈国良黄如
Ultra-Thin Body SOI MOSFET交流特性分析和结构优化
2005年
针对沟道长度为 5 0nm的UTBSOI器件进行了交流模拟工作 ,利用器件主要的性能参数 ,详细分析了UTB结构的交流特性 .通过分析UTBSOI器件的硅膜厚度、侧墙宽度等结构参数对器件交流特性的影响 ,对器件结构进行了优化 .最终针对UTBSOIMOSFET结构提出了一种缓解速度和功耗特性优化之间矛盾的方法 ,从而实现了结构参数的优化选取 。
田豫黄如
关键词:MOSFET
超深亚微米非对称Halo LDD低功耗新器件的研究分析被引量:1
2003年
提出了一种新的器件结构——非对称 Halo L DD低功耗器件 ,该器件可以很好地抑制短沟效应 ,尤其可以很好地改善 DIBL效应、热载流子效应以及降低功耗等 ,是低功耗高集成度电路的优选结构之一 .分析了非对称 HaloL DD器件的主要特性 ,并将其与常规结构、非对称 L DD结构、非对称 Halo结构的器件进行了比较并进行了参数优化分析 .
田豫黄如
关键词:超深亚微米低功耗
亚100nm SOI器件的结构优化分析被引量:4
2003年
分析了SOI器件各结构参数对器件性能的影响 ,给出了器件各结构参数的优化方向 ,找出了可行硅膜厚度和可行沟道掺杂浓度之间的设计容区 .在部分耗尽与全耗尽SOI器件的交界处 ,阈值电压的漂移有一个峰值 ,在器件设计时应避免选用这一交界区 .此外 ,随着硅膜厚度的减小 ,器件的泄漏电流随着沟道掺杂浓度的不同 ,有一个极小值 .通过模拟分析发现 ,只要合理选择器件的结构参数 。
王文平黄如张国艳
关键词:SOI器件短沟效应结构优化
线性余因子差分亚阈电压峰技术测量电应力诱生MOSFET界面陷阱的研究被引量:1
2002年
本文提出了用线性余因子差分亚阈电压峰测量电应力诱生MOSFET界面陷阱的新技术并进行了实验验证 .详细介绍了该方法的基本原理和实验实现 ,得到了电应力诱生MOSFET界面陷阱和累积应力时间的关系 .该方法具有普适性 ,可用于MOSFET的一般可靠性研究和寿命预测 .
何进张兴黄如王阳元
关键词:MOSFETMOS器件
共1页<1>
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