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- 一种X荧光光谱仪
- 本实用新型属于X荧光光谱仪技术领域，特别是涉及一种X荧光光谱仪。X荧光光谱仪包括第一壳体、光源、探测器和样品承载件；第一壳体内具有光路出射口、光路入射口及用于安装光路组件的真空腔，样品承载件设置在第一壳体上且位于真空腔的...
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- X荧光光谱仪（XU-8）
- 1.本外观设计产品的名称：X荧光光谱仪（XU‑8）。;2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品是一种X荧光光谱仪，利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)，从而进行物质成分分析、测定元素...
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- 一种上照式X荧光光谱仪及其控制方法
- 本发明公开了一种上照式X荧光光谱仪及其控制方法，包括连接轴、弹簧和光谱仪控制器本体，所述第一外壳上设置有风扇导轨；它通过支架气缸和转动电机调节抓手的位置，通过抓手将产品放置合适的位置上，有效避免产品到X射线管的距离定位不...
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- 1.本外观设计产品的名称：波长色散X荧光光谱仪（WX6000）。;2.本外观设计产品的用途：用于测定土壤、矿石、淤泥和固废等样品中的铅、砷、铬、铜、锌、镍、钴、钒、锰、铷、锶、钍、钛、镓、锆、钇、钡、铁、钙等元素。;3....
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- X荧光光谱仪测定7×××系铝合金中元素的方法研究
- 2024年
- 通过电流、电压、计数时间等不同试验参数的正交试验,确定了X射线荧光光谱法的最佳试验条件。选择铝合金标准样品,建立标准工作曲线,实现了7×××系铝合金中元素Si、Fe、Cu、Mn、Mg、Cr、Ni、Zn、Ti、Zr的准确测定。对该测定方法的精密度进行考察,铝合金样品中各元素测定结果的相对标准偏差均低于0.7%,对标准样品进行分析,测定值与化学法吻合较好,能够满足铝合金各元素的准确测定的需求。
- 高双王秋霞唐宗元谭家英谭海燕
- 关键词：正交试验X射线荧光光谱法
- X荧光光谱仪真空度偏高故障率的原因与对策
- 2024年
- 利用统计方法对X荧光光谱仪故障的产生原因进行分析,探究造成X荧光光谱仪故障率的主要因素。通过逐层次分析得知,真空度偏高是真空系统故障的主要因素。对真空度偏高故障率的原因进行分析,从密封样品罐的麦拉膜更换、制样压片压力、过滤网清洗频次、密封环更换频次、泵油更换频次、人员综合素质六个方面入手,通过试验找出各因素对真空度偏高故障率的影响程度,根据影响程度得到导致真空度偏高故障的症结。制样压片压力低、密封环使用时间过长是影响X荧光光谱仪真空度偏高的主要因素,采取增大压片压力、加大更换密封环频次等方法,降低了真空度偏高故障率,保障了样品分析的稳步进行,提高了化验的精准度,及时为生产提供数据支持,获得了一定的经济效益和社会效益。
- 陈晗雪
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- 一种带有防护网的X荧光光谱仪
- 本实用新型涉及光学测量技术领域，具体公开了一种带有防护网的X荧光光谱仪，包括柜体，柜体的顶部设置有测试台，测试台上开设有第一测试窗口，第一测试窗口上安装有防护网组件，防护网组件包括防护网和外围结构，防护网的材质中主要成分...
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- 用于波长色散X荧光光谱仪的硼元素检测通道装置
- 本实用新型涉及技术领域，具体公开了一种用于波长色散X荧光光谱仪的硼元素检测通道装置，包括分光壳体、入射准直器、出射准直器、分光晶体及微调组件；入射准直器包括入射管体，入射管体连接于入射口处，形成入射通道；入射通道的入射端...
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- 一种X荧光光谱仪测定石英石中二氧化硅的前处理方法
- 一种X荧光光谱仪测定石英石中二氧化硅的前处理方法，涉及化学检测方法技术领域。该发明提供了一种石英石样品中加入淀粉作为粘合剂，在30t压力下可使石英石样片表面平整、光滑，无裂痕、不易粘连磨具、成片率高的方法，其特征在于：称...
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